可靠UDP

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建立了从裸芯片到KGD的质量与可靠性保证系统,确立了裸芯片测试、老化和评价技术,实现了工作温度为一55~+125℃ 的裸芯片静态、动态工作频率小于100MHz的测试和工作频率小于3MHz的1 25℃ 动态老化筛选,可保障裸芯片在技术指标和可...

2013-11-08 165 可靠UDP

电子产品可靠性分析、评价的重点在于确定其高风险环节。基于充分考量失效机理的分析目的,采用了“元器件-失效模式-失效机理-影响因素”相关联的分析方法,通过相关物理模型和一个电子产品分析案例,实现了利用这一方式确定高风险...

2013-11-19 39 可靠UDP