可靠性评估
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查看全部 500 份 →利用二极管V_F值与结温的关系评估大功率半导体器件的固晶可靠性总结
该文档为利用二极管V_F值与结温的关系评估大功率半导体器件的固晶可靠性总结文档，是一份很不错的参考资料，具有较高参考价值，感兴趣的可以下载看看………………
2021-11-29
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2.5kWPFC评估板
对英飞凌的解决方案——2.5kW PFC 评估板深度解析说明。这个评估板包含以 4 针形式封装的一个 CCM-PFC 控制器、MOSFET 驱动器，碳化硅 (SiC) 二极管和功率 MOSFET，改善了效率和信号质量，实现精密评估。
2023-01-19
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用于评估STM32F20x系列的STM3220G-EVAL评估板
用于评估STM32F20x系列的STM3220G-EVAL评估板 (STM3220G-EVAL evaluation board)
2023-04-14
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