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双脉冲测试是评估功率半导体器件动态特性的关键方法，广泛应用于MOSFET、IGBT等开关性能分析。通过精确测量开通与关断过程中的电压电流变化，帮助工程师优化电路设计，提高系统效率与可靠性。本页面汇集了16716份精选资源，涵盖理论教程、实验案例及专业软件工具，助力您深入理解并掌握这一核心技术，加速产品研发周期。立即访问，开启您的高效学习之旅！

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介绍了一种改进了的动平衡测试系统.系统的核心部分利用了双CPU:用通用灵活的八位单片机进行现场数据的采集和控制,用高性能的十六位单片机进行数据分析处理,从而使系统具有速度快,实时处理的优点....

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双单片机 动平衡 控制

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