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随着 EDA  设计的蓬勃发展，加之高速器件的大面积应用，单板的密度越来越大，提高 PCB单板的设计效率，已经成为我们亟待解决的问题。而 PCB 单机布线所花费的时间往往成为制约某一项目进度的瓶颈， 为大幅度提高单板整体设计效率，...

2013-10-19 63 功放测试

在集成电路内建自测试的过程中，电路的测试功耗通常显著高于正常模式产生的功耗，因此低功耗内建自测试技术已成为当前的一个研究热点。为了减少被测电路内部节点的开关翻转活动率，研究了一种随机单输入跳变（Random Single Input Cha...

2013-10-08 69 功放测试

随着 EDA  设计的蓬勃发展，加之高速器件的大面积应用，单板的密度越来越大，提高 PCB单板的设计效率，已经成为我们亟待解决的问题。而 PCB 单机布线所花费的时间往往成为制约某一项目进度的瓶颈， 为大幅度提高单板整体设计效率，...

2014-12-24 128 功放测试