硅中磷杂质的SIMS定量检测
样品的前期处理工艺会对检测结果产生影响。不同处理工艺得到的样品,在表面粗糙度方面产生区别。不同的表面粗糙度,影响到样品的测试时间和测试精度。同时,通过仪器调试,仪器的真空度达到1×10-10 torr,使测试背底和检测限降低。 ...
样品的前期处理工艺会对检测结果产生影响。不同处理工艺得到的样品,在表面粗糙度方面产生区别。不同的表面粗糙度,影响到样品的测试时间和测试精度。同时,通过仪器调试,仪器的真空度达到1×10-10 torr,使测试背底和检测限降低。 ...
消费电子产品,如手机、PDA(个人数字助理)、数码相机以及便携式娱乐系统,正在变得更小、更快和更便宜,而且这类新产品的面市时间也比以往更短了。为了与时俱进,半导体、无源和有源器件行业正不断推动其研发工艺向集成度和复杂度更高的水平进步。这种在更小的空间内集成更多电路技术的进步,实...
单板生产测试的目的: 剔除单板加工过程引入缺陷 剔除元器件失效的缺陷 指导加工工艺的不断改进,从根本上保证产品质量...
误差分析与处理基础 测量:人们借助于检测仪表通过实验方法对客观事物取得数量信息的过程。真值:在一定时间、空间条件下客观存在的被测量的确定数值。测量值:检测仪表指示或显示被测参量的数值即仪表读数或示值。测量误差:测量值与真值的差。在科学研究及科学实验中,精度是首要的;在工程实际中,稳定性是首要的,精度...
DH45L是基于CMOS工艺设计和生产的霍尔IC,元件内部集成了霍尔效应片、电压调节器、休眠唤醒控制电路、信号放大滤波电路、偏移补偿电路、施密特触发器,开漏极输出。与DH481周期性周期检测磁场不同,DH45L连续检测环境磁场强度,响应速度快,但功耗较大(2mA)。DH45L不区分N极和S极,对N极...