冲击试验
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串并联负载谐振(LCC)电路因其拓扑结构的优点广泛的应用在了电子镇流器中,LCC 拓扑结构简单,无需外加启动器。但LCC 电路的一个缺点是在并联负载谐振产生高压的同时谐振电流过大,在小功率应用中易造电
2024-03-15
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期刊论文:一种数字化冲击电压波形重构新算法
·论文摘要:为减少数字化冲击测量系统的测量误差,分析了冲击电压经数字化冲击测量系统后被测波形产生畸变的原子核因;提出了一种利用离散Gabor变换展开去噪与增量维纳滤波器相结合的冲击电压波形重构算法.
2024-07-12
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eeprom试验
一个完整的EEPROM 测试程序,用宏晶的下载板可以直接测试 STC12C5AxxAD 系列单片机 EEPROM/IAP 功能测试程序演示 STC12C52xxAD 系列单片机 EEPROM/IAP 功能测试程序演示
2026-02-15
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