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内部缺陷

  • 华为内部资料Linux命令

    很不错的一本Linux指令资料,是华为的内部资料

    标签: Linux 华为 命令

    上传时间: 2013-04-24

    上传用户:anng

  • C陷阱与缺陷

    C陷阱与缺陷C陷阱与缺陷C陷阱与缺陷C陷阱与缺陷

    标签: 缺陷

    上传时间: 2013-05-17

    上传用户:dongbaobao

  • 电容的介绍和深入__华为内部资料

    电容器介绍及生产流程 华为内部培训资料 请大家参考

    标签: 电容 华为

    上传时间: 2013-04-24

    上传用户:20160811

  • 基于ARM的TKernel系统移植研究

    T-Kernel作为一种嵌入式操作系统,由于实时性和开源性,在嵌入式操作系统领域中的应用越来越广泛。ARM是一款比较好的微处理器,T-Kernel在ARM上的应用研究基本上是空白,所以结合两者进行研究促进T-Kernel在国内嵌入式领域的发展。同时,T-Kernel内部调度机制存在着优先级反转缺陷,优先级反向使得高优先级任务的执行时间无法预测,增加了实时系统的不确定性。早期的解决协议较好地解决了优先级反转问题,但同时也存在着自身不足之处。 针对T-Kernel存在的缺陷,在深入研究相关协议的基础上,本论文提出了一种新的改进的优先级继承协议。该协议设置超时保护机制,避免任务在获取信号量时长时间的阻塞,结合Havender提出的“有序资源使用法”防止死锁发生,给出该协议的分析过程,并把该协议结合到T-Kernel中。在这个基础之上,建立研究开发平台;针对硬件设备,研究引导程序的执行原理,实现系统的引导程序;构建T-Kennel内核;移植内核到开发板;最后对T-Kernel的启动过程进行了详细的分析。 T-Kernel在ARM上的移植研究,为嵌入式系统开发的提供了一种开发流程,同时对于T-Kernel的启动过程的分析,为以后的应用程序开发提供了一个接口;对于T-Kernel存在的优先级反转问题的解决,可以改进T-Kernel的实时性和灵活性,同时为实时系统的性能改进提供了参考。

    标签: TKernel ARM 移植

    上传时间: 2013-04-24

    上传用户:shangdafreya

  • 基于ARM的T波交替检测技术

    心血管系统疾病是现今世界上发病率和死亡率最高的疾病之一。T波交替(T-wavealtemans,TWA)作为一种非稳态的心电变异性现象,是指心电T波段振幅、形态甚至极性逐拍交替变化。大量研究表明,TWA与室性心律失常、心脏性猝死等有直接密切的关系,已成为一种无创独立性预测指标。随着数字信号处理技术和计算机技术的迅速发展,微伏级的TWA已经可以被检出,并且精度越来越高。本文以T波交替检测为中心,基于ARM给出了T波交替检测技术原理性样机的硬件及软件,实现实时监护的目的。 在TWA检测研究中,需要对心电信号进行预处理,即信号去噪和特征点检测。小波分析以其多分辨率的特性和表征时频两域信号局部特征的能力成为我们选取的心电信号自动分析手段。文中采用小波变换将原始心电信号分解为不同频段的细节信号,根据三种主要噪声的不同能量分布,采用自适应阈值和软硬阈值折衷处理策略用阈值滤波方法对原始信号进行去噪处理:同时基于心电信号的特征点R峰对应于Mexican-hat小波变换的极值点,因此我们使用Mexican-hat小波检测R峰,通过附加检测方案确保了位置的准确性,并根据需要提出了T波矩阵提取方法。 随后文章介绍了T波交替的产生机理及研究进展,分别从临床应用和检测方法上展现了目前TWA的发展进程,并利用了谱分析法、相关分析法和移动平均修正算法分别从时域和频域对一些样本数据进行T波交替检测。在检测中谱分析法抗噪能力较强,但作为一种频域检测方法,无法检测非稳态TWA信号,而相关分析法受呼吸、噪声影响较大,数据要求较高,因此可以在谱分析检测为阳性TWA基础上,再对信号进行相关分析,从而克服自身算法缺陷,确定交替幅度和时间段。最后对影响检测结果的因素进行讨论研究,从而降低检测误差。 文章还设计了T波交替检测技术原理性样机的关键部分电路和软件框架。硬件部分围绕ARM核的Samsung S3C44BOX为核心,设计了该样机的关键电路,包括采集模块、数据处理模块(外部存储电路、通信接口电路等)。其中在采集模块中针对心电信号是微弱信号并且干扰大的特点,采用了具有高共模抑制比和高输入阻抗的分级放大电路,有效的提取了信号分量:A/D转换电路保证了信号量化的高精度。利用USB接口芯片和删内部异步串行通讯实现系统与外界联系。系统软件中首先介绍了系统的软件开发环境,然后给出了心电信号分析及处理程序设计流程图及实现,使它们共同完成系统的软件监护功能。

    标签: ARM 检测技术

    上传时间: 2013-07-27

    上传用户:familiarsmile

  • ARM嵌入式系统在家用通信平台中的应用与研究

    智能家庭信息系统是集自动化、计算机、通信技术于一体的“3C”系统,它将各种家电产品结合成一个有机整体,实现了对家电设备进行集中或异地控制和管理,以及能够与外界进行信息交互,以控制终端为突破口作为对家庭信息系统的研究,将有可能在以后的竞争中占据制高点,取得良好的经济和社会效益。 本课题开发的智能家庭信息系统是以实际项目为背景,对基于网络的嵌入式家庭信息系统进行了研究。通过对传统智能家居的特点进行分析,指出了目前市场上的智能家居系统的局限性,提出了基于短距无线网络的现代智能家居系统是将来的发展趋势。 接着对智能家居控制的系统构架以及相关关键技术进行了分析和比较,指出基于IEEE802.15.4的ZigBee技术是目前最适合无线家居控制系统的无线标准,并对该标准进行了深入研究。 论文充分考虑到家庭信息化网络的现状和家庭内部各信息家电的互连、集中控制、远程访问与控制的需求,以及低成本实现的实际需要,及设备互连对传输带宽和使用灵活性等特点的需要,设计了以无线ZigBee技术组成家庭网络体系总体结构,避免了在家庭内部布线的缺陷,且满足了功耗低,成本低,网络容量大等要求。 设计了新型无线通讯模块,该模块主控芯片采用8位低功耗微控制器ATMEGA64及CHIPCON公司推出的首款符合2.4 GHZ IEEE802.15.4标准的射频收发器CC2420来实现ZigBee模块,它可以降低无线通讯的成本和提高无线通讯的可靠性,可以单独使用,也可以嵌入其它设备。 论文采用了免费、公开的linux操作系统,并给出了在Linux上的开发流程。 最后,论文具体分析了无线ZigBee协议、ZigBee组网技术以及它们在将来的广泛应用。深入地研究了HTTP超文本传输协议,设计了远程客户端访问和控制家用电器的界面,并给出了部分软件设计流程图。

    标签: ARM 嵌入式系统 中的应用

    上传时间: 2013-04-24

    上传用户:agent

  • 基于ARMDSP双核与ucLinux的玻璃缺陷在线检测系统

    随着微电子技术和计算机技术的发展,工业生产过程的自动化和智能化程度越来越高。就玻璃工业生产而言,以前浮法玻璃生产线上所用的质量检测都是通过利用人眼离线检验或专用仪器抽样检测,无法满足实时检测的要求,并且人眼检测只能发现较大的玻璃缺陷,所以玻璃质量无法提高。目前国内几家大型玻璃生产企业都开始采用进口检测设备,可以对玻璃实现100%在线全检,自动划分玻璃等级,并获得质量统计数据,指导玻璃生产,稳定玻璃质量水平。 但由于价格昂贵,加上国内浮法玻璃生产线现场条件复杂,需要很长时间的配套和适应,而且配件更换困难以及售后服务难以到位等问题,严重束缚了国内企业对此类设备的引进,无法提高国内企业在国际市场的竞争能力。 应对此一问题,本文主要研究了基于DSP+ARM的独立双核结构的嵌入式视频缺陷在线检测系统的可行性,提出了相应的开发目标和性能参数,并在此基础上主要给出了基于TI公司TMS320C6202B DSP的视频图像处理以及缺陷识别的总体方案、硬件设计和相应的底层软件模块;同时论述了嵌入式工业控制以及网络传输的实现方案——采用Samsung公司的基于ARM7内核的S3C4510B作为主控芯片,运行uClinux操作系统,设计出整个嵌入式系统的软件层次模型和数据处理流程,其中编程底层的软件模块为上层的应用程序提供硬件操作和流程,从而实现缺陷识别结果的控制与传输。同时,本文还对玻璃缺陷的识别原理进行了深入的探讨,总结出了图象处理,图象分割以及特征点提取等识别步骤。 本系统对于提高玻璃缺陷在线检测的工艺水平、灵敏度、精度等级;提高产品质量、生产效率和自动化水平,降低投资及运行成本都将有着极其重要的现实意义。

    标签: ucLinux ARMDSP 双核 玻璃

    上传时间: 2013-07-02

    上传用户:shenglei_353

  • 华硕内部的PCB设计规范

    华硕内部的PCB设计规范,华硕内部的PCB设计规范

    标签: PCB 华硕 设计规范

    上传时间: 2013-06-15

    上传用户:brucewan

  • CCD扫描缺陷检测实时数据处理技术

    在诸多行业的材料及材料制成品中,表面缺陷是影响产品质量的重要因素之一。研究具有显微图像实时记录、处理和显示功能的材料表面缺陷检测技术,对材料的分选和材料质量的检查及评价具有重要的意义。 本文以聚合物薄膜材料为被测对象,研究了适用于材料表面缺陷检测的基于现场可编程门阵列(FPGA)的缺陷数据实时处理技术,可实时提供缺陷显微图像信息,完成了对现有材料缺陷检测装置的数字化改造与性能扩展。本文利用FPGA并行结构、运算速度快的特点实现了材料缺陷的实时检测。搭建了以FPGA为核心的缺陷数据处理系统的硬件电路;重点针对聚合物薄膜材料缺陷信号的数据特征,设计了基于FPGA的缺陷图像预处理方案:首先对通过CCD获得的聚合物薄膜材料的缺陷信号进行处理,利用动态阈值定位缺陷区域,将高于阈值的数据即图像背景信息舍弃,保留低于阈值的数据,即完整保留缺陷显微图像的有用信息;然后按照预先设计的封装格式封装缺陷数据;最后通过USB2.0接口将封装数据传输至上位机进行缺陷显微图像重建。此方案大大减少了上传数据量,缓解了上位机的压力,提高了整个缺陷检测装置的检测速度。本文对标准模板和聚合物薄膜材料进行了实验验证。实验结果表明,应用了基于FPGA的缺陷数据实时处理技术的CCD扫描缺陷检测装置可对70μm~1000μm范围内的缺陷进行有效检测,实时重建的缺陷显微图像与实际缺陷在形状和灰度上都有很好的一致性。

    标签: CCD 缺陷检测 实时数据 处理技术

    上传时间: 2013-05-19

    上传用户:Alibabgu

  • 基于FPGA的PCI数据采集卡的研究与开发

    随着信息技术和电子技术的进步和日益成熟,计算机数据采集技术得到了广泛应用。由于ISA数据采集卡的固有缺陷,PCI接口的数据采集卡将逐渐取代ISA数据采集卡,成为数据采集的主流。为了简化PCI数据采集卡结构,提高数据采集可靠性,本文研究并开发了一种基于FPGA的PCI结构的数据采集卡系统。 论文对PCI对目标设备数据采集卡实现的原理和方法进行了深入研究,设计了基于FPGA的PCI数据采集卡的硬件电路,通过在FPGA中嵌入了PCI目标设备的IP核与用户逻辑部分,构成了SOPC系统。使用Verilog硬件描述语言设计并实现了FPGA内部采集数据管理、数据管理寄存器和FIFO数据缓冲队列等模块电路。利用ModelSim对PCI系统进行了仿真。完成了系统硬件电路PCB板的设计,最终制作了PCI数据采集卡。 论文针对PCI结构的数据采集卡系统软件需求,研究了WDM设备驱动软件、Windows环境的简易虚拟示波器以及简易虚拟逻辑仪实现原理和方法。利用DriverStudio+Windows DDK for XP+VC6的软件平台,开发了WDM设备驱动程序。实现了Windows环境的简易虚拟示波器,和简易虚拟逻辑仪。系统测试结果表明该系统设计正确,系统运行稳定,功能和指标达到了设计要求。

    标签: FPGA PCI 数据采集卡

    上传时间: 2013-07-22

    上传用户:z754970244