光电效应是物理学中一个重要而神奇的现象。在高于某特定频率的电磁波(该频率称为极限频率thresholdfrequency)照射下,某些物质内部的电子吸收能量后逸出而形成电流,即光生电。
研究SOI NMOS器件在单粒子效应下电荷积累特性的技术论文,涵盖器件物理与辐射效应分析,适用于集成电路可靠性设计参考。
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