📚 光照强度技术资料

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光照强度是衡量光源亮度的关键参数，广泛应用于环境监测、智能照明及农业自动化等领域。掌握光照强度测量技术对于优化能源利用效率、提升作物产量具有重要意义。本页面汇集了387个精选资源，涵盖从基础理论到高级应用的全方位知识体系，包括传感器选型指南、电路设计实例与项目案例分析等，助力电子工程师深入理解并灵活运用光照强度相关技术，推动创新实践。

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基于偏振相移和相关分析,提出一种高分辨率、方便实现的干涉条纹细分原理.该原理将细分环节由电 子线路信号处理部分向前移,通过干涉条纹强度分布综合信息的分析与处理来实现,即通过具有高分辨率的 偏振相移操作,对干涉相位进行相位调控,使干涉条纹强度分布回到位移起始时的状态,则与相位调控量对应 的光程,...

📅 👤 lnnn30
分 偏振 相移 干涉条纹

提出了杨氏条纹观察屏处放置衍射晕负片消除衍射晕影响的新方法。用该方法对实际双曝光散斑底片 进行了处理。结果表明.对解决由于衍射晕强度变化引起的条纹极值漂移和条纹对比度下降间题行之有效。...

📅 👤 亚亚娟娟123
衍射 曝光 底片 变化

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