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Q1：请介绍一下MCU的测试方法。A1：MCU从生产出来到封装出货的每个不同的阶段会有不同的测试方法，其中主要会有两种：中测和成测。所谓中测即是WAFER的测试，它会包含产品的功能验证及AC、DC的测试。项目相当繁多，以HOLTEK产品为例...

2013-11-08 128 估计技术

EDA技术课程设计：可控计数器的设计 设计要求：1.设计一个五进制计数器，由两个控制键sel控制不同的计数方式；2.当sel=00时，按0、1、2、3、4、0、1、2、3、4......顺序计数；3.当sel=01时，按0、2、4、6、8、...

2013-12-16 95 估计技术