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边扫描测试是在20世纪80年代中期做为解决PCB物理访问问题的JTAG接口发展起来的,这样的问题是新的封装技术导致电路板装配日益拥挤所产生的。边界扫描在芯片级层次上嵌入测试电路,以形成全面的电路板级测试协议。
2024-05-24
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机械精度基础.(Foundations.Of.Mechanical.Accuracy).(美)维恩.R.穆尔.扫描版.pdf
资料->【F】机械结构->【F0】机械综合->【2】机械加工->机械精度基础.(Foundations.Of.Mechanical.Accuracy).(美)维恩.R.穆尔.扫描版.pdf
2023-05-04
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