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上电复位

  • 一款USBkey用MCU电路早期失效问题初探

    我公司生产的 USBkey 产品所使用的MCU 电路,自2007 年9 月初USBkey 产品开始量产化后,我们对其部分产品做了电老化试验,发现该款电路早期失效问题达不到我们要求,上电以后一段时间内失效率为千分之一点五左右。为此,我们从去年10 月到今年2 月对所生产的产品(已发出的除外)全部进行了电老化筛选,通过这项工作发现了一些规律性的东西,对提高电子产品的安全可靠性有一定指导意义。2 试验条件的设定造成电路早期失效的原因很多,从 IC 设计到半导体生产工艺、电路封装、焊接装配等生产工序和生产设备、生产材料、生产环境及人为的因素都有可能是成因,作为电路的使用方不可能都顾及到,也不可控。通过分析,我们认为还是着眼于该款电路在完成半导体生产工艺后,在后部加工中所产生的早期失效问题更有针对性。,因此决定从电路的后部加工工序即封装、COS 软件以及产品SMT 加工工艺等方面入手,安排几种比对试验并取得试验数据,以期找出失效原因。

    标签: USBkey MCU 电路 失效

    上传时间: 2014-12-28

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  • Study-3 51单片机开发板原理图

    Study-3 51单片机开发板原理图:1-单片机的管脚除下载的几个(P30,P31,P15,P16,P17,RST)之外,均直接扩展出来,原理图中对应绿色的网络2-红色的网路对应的是这个板子上的外设,比如 液晶 数码管等等3-其他颜色的就是对应的各个部分的网络4-这个原理图的布局是根据PCB的布局来设计的,这样方便查阅5-在PCB中的右面扩展出来的万能板上,外面的一排是GND,里面的一排是VCC,扩展的时候,可以把电源直接接到这里就可以了6-板子的左上角有2个跳线,一个是控制液晶的背光用的,一个是2位数码管的能信号,因为采用了74ls164串转并的方案,所以数码管和串口不能同时使用,但是下载程序不影响,即平时短接就可以当作串口试验的时候,建议把跳线断开7-关于S系列单片机的使用,这个板子兼容S系列的单片机使用,留有下载线的接口8-下载程序说明,STC单片机采用串口下载,下载前一定要冷启动即断电,点击下载,上电,程序就会下载进去了

    标签: Study 51单片机 开发板原理图

    上传时间: 2013-10-29

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  • PCA9547D/PW/BS I2C多路复用器和开关

    PCA9547 是一款通过I2C 总线控制的八进制双向转换开关。它的每对SCL/ SDA 上行通道可以扩展为八对下行通道。但在某一时刻,由可编程控制寄存器中的内容来决定只有一路SCx/SDx 被选择。由多路复用器的通门,VDD 管脚可以用来限制PCA9547 通过的最高电压,这使得每一对SCL/SDA 可以使用不同的总线电压,因此1.8V、2.5V 或3.3V 的器件都可以在无其它保护的情况下与5V 的器件进行通信。它的外部上拉电阻将总线拉高至每个通道所要求的电压电平,所有I/O 管脚都可以承受5V 的电压。设备上电时由通道0 连接,并且允许主机和下行设备进行直接的通信

    标签: 9547 PCA I2C BS

    上传时间: 2014-12-28

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  • 结构紧凑的Li+电池充电器

    锂离子电池Li+ 是适合电子产品轻薄小需求的高能量密度高性能电池,被广泛应用于手机,PDA ,笔记本电脑等高端产品中.图一所示电路提供了一种结构简单紧凑的单节Li+电池充电方案图中墙上适配器为9VDC 800mA 限流型电压源Anam Friwo 等公司均有相应产品MAX1679内置充电终止检测电路和充电过程控制.器插入电池或充电器上电都将启动一次充电过程一次完整的充电过程包括初始化充电以较小的充电电流为电池充电使电池电压大于2.5V温度范围如果超出2.5 到47.5 则处于等待状态.快充过程快充开始后MAX1679打开外接的P 沟道场效应管快充电流由外部限流型充电电源决定.一旦检测到电池电压达到Li+电池充电终止门限电压时快充结束.充电终止门限电压由电阻RADJ确定,可参考以下公式:

    标签: Li 电池充电器

    上传时间: 2013-11-14

    上传用户:yuanwenjiao

  • 使用jtag接口通过网口烧写程序

    什么是JTAG 到底什么是JTAG呢? JTAG(Joint Test Action Group)联合测试行动小组)是一种国际标准测试协议(IEEE 1149.1兼容),主要用于芯片内部测试。现在多数的高级器件都支持JTAG协议,如DSP、FPGA器件等。标准的JTAG接口是4线:TMS、 TCK、TDI、TDO,分别为模式选择、时钟、数据输入和数据输出线。 JTAG最初是用来对芯片进行测试的,基本原理是在器件内部定义一个TAP(Test Access Port�测试访问口)通过专用的JTAG测试工具对进行内部节点进行测试。JTAG测试允许多个器件通过JTAG接口串联在一起,形成一个JTAG链,能实现对各个器件分别测试。现在,JTAG接口还常用于实现ISP(In-System rogrammable�在线编程),对FLASH等器件进行编程。 JTAG编程方式是在线编程,传统生产流程中先对芯片进行预编程现再装到板上因此而改变,简化的流程为先固定器件到电路板上,再用JTAG编程,从而大大加快工程进度。JTAG接口可对PSD芯片内部的所有部件进行编程 JTAG的一些说明 通常所说的JTAG大致分两类,一类用于测试芯片的电气特性,检测芯片是否有问题;一类用于Debug;一般支持JTAG的CPU内都包含了这两个模块。 一个含有JTAG Debug接口模块的CPU,只要时钟正常,就可以通过JTAG接口访问CPU的内部寄存器和挂在CPU总线上的设备,如FLASH,RAM,SOC(比如4510B,44Box,AT91M系列)内置模块的寄存器,象UART,Timers,GPIO等等的寄存器。 上面说的只是JTAG接口所具备的能力,要使用这些功能,还需要软件的配合,具体实现的功能则由具体的软件决定。 例如下载程序到RAM功能。了解SOC的都知道,要使用外接的RAM,需要参照SOC DataSheet的寄存器说明,设置RAM的基地址,总线宽度,访问速度等等。有的SOC则还需要Remap,才能正常工作。运行Firmware时,这些设置由Firmware的初始化程序完成。但如果使用JTAG接口,相关的寄存器可能还处在上电值,甚至时错误值,RAM不能正常工作,所以下载必然要失败。要正常使用,先要想办法设置RAM。在ADW中,可以在Console窗口通过Let 命令设置,在AXD中可以在Console窗口通过Set命令设置。

    标签: jtag 接口 烧写程序

    上传时间: 2013-10-23

    上传用户:aeiouetla

  • XAPP482 - MicroBlaze Platform Flash,PROM 引导加载器和用户数据存储

        本应用指南讲述一种实用的 MicroBlaze™ 系统,用于在非易失性 Platform Flash PROM 中存储软件代码、用户数据和配置数据,以简化系统设计和降低成本。另外,本应用指南还介绍一种可移植的硬件设计、一个软件设计以及在实现流程中使用的其他脚本实用工具。   简介许多 FPGA 设计都集成了使用 MicroBlaze 和 PowerPC™ 处理器的软件嵌入式系统,这些设计同时使用外部易失性存储器来执行软件代码。使用易失性存储器的系统还必须包含一个非易失性器件,用来在断电期间存储软件代码。大多数 FPGA 系统都在电路板上使用 Platform FlashPROM (在本文中称作 PROM),用于在上电时加载 FPGA 配置数据。另外,许多应用还可能使用其他非易失性器件(如 SPI Flash、Parallel Flash 或 PIC)来保存 MAC 地址等少量用户数据,因此导致系统电路板上存在大量非易失性器件。

    标签: MicroBlaze Platform Flash XAPP

    上传时间: 2013-10-13

    上传用户:hakim

  • ARM的Bootloader启动流程研究

    讲述了基于ARM 处理器的嵌入式系统在上电启动后应用程序或操作系统运行前,对处理器及其内部功能模块进行初始化的过程,并结合经过实际验证的代码详细的分析了S3C44B0 Bootloader 的运行过程。

    标签: Bootloader ARM 启动流程

    上传时间: 2014-12-30

    上传用户:1234xhb

  • 基于ZigBee网络的无线智能照明系统设计

    介绍了ZigBee技术,提出了一种基于ARM9芯片与ZigBeeCC2480芯片控制的、应用于家居中的智能无线照明系统。该系统具有上电自组网的功能,用户可以控制协调器通过路由器向该路由器节点上的任意一个终端设备发送信号,终端设备接收到命令并产生PWM信号,实现了对每一盏LED的多级调光及情景模式控制功能。阐述了实现该系统的几个关键问题并给出了实验结果。

    标签: ZigBee 网络 无线智能照明 系统设计

    上传时间: 2013-11-09

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  • Xilinx FPGA集成电路的动态老化试验

      3 FPGA设计流程   完整的FPGA 设计流程包括逻辑电路设计输入、功能仿真、综合及时序分析、实现、加载配置、调试。FPGA 配置就是将特定的应用程序设计按FPGA设计流程转化为数据位流加载到FPGA 的内部存储器中,实现特定逻辑功能的过程。由于FPGA 电路的内部存储器都是基于RAM 工艺的,所以当FPGA电路电源掉电后,内部存储器中已加载的位流数据将随之丢失。所以,通常将设计完成的FPGA 位流数据存于外部存储器中,每次上电自动进行FPGA电路配置加载。   4 FPGA配置原理    以Xilinx公司的Qpro Virtex Hi-Rel系列XQV100电路为例,FPGA的配置模式有四种方案可选择:MasterSerial Mode,Slave Serial Mode,Master selectMAPMode,Slave selectMAP Mode。配置是通过芯片上的一组专/ 复用引脚信号完成的,主要配置功能信号如下:   (1)M0、M1、M2:下载配置模式选择;   (2)CLK:配置时钟信号;   (3)DONE:显示配置状态、控制器件启动;

    标签: Xilinx FPGA 集成电路 动态老化

    上传时间: 2013-11-18

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  • XAPP482 - MicroBlaze Platform Flash,PROM 引导加载器和用户数据存储

        本应用指南讲述一种实用的 MicroBlaze™ 系统,用于在非易失性 Platform Flash PROM 中存储软件代码、用户数据和配置数据,以简化系统设计和降低成本。另外,本应用指南还介绍一种可移植的硬件设计、一个软件设计以及在实现流程中使用的其他脚本实用工具。   简介许多 FPGA 设计都集成了使用 MicroBlaze 和 PowerPC™ 处理器的软件嵌入式系统,这些设计同时使用外部易失性存储器来执行软件代码。使用易失性存储器的系统还必须包含一个非易失性器件,用来在断电期间存储软件代码。大多数 FPGA 系统都在电路板上使用 Platform FlashPROM (在本文中称作 PROM),用于在上电时加载 FPGA 配置数据。另外,许多应用还可能使用其他非易失性器件(如 SPI Flash、Parallel Flash 或 PIC)来保存 MAC 地址等少量用户数据,因此导致系统电路板上存在大量非易失性器件。

    标签: MicroBlaze Platform Flash XAPP

    上传时间: 2013-10-15

    上传用户:rocwangdp