搜索：△V检测
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https://www.eeworm.com/dl/843564.html
技术资料
ASME第V卷《无损检测》
美国机械工程师学会（ASME）于2010年7月1日发布的最新版 ASME第V卷《无损检测》，增添的新内容大多是围绕焊缝超声检测（UT）展开的，可见UT方法中隐含着大量鲜活的科技新信息新技能，无一不与当今高速发展的计算机技术息息相关。充分熟悉新版新内容，熟练掌握新技能新要求，为承压设备制造质量提供安 ...
https://www.eeworm.com/dl/1016405.html
技术资料
即时V-TH测量
一套用于偏压温度不稳定性分析的即时V-TH测量方法与数据集，包含完整测试流程和参数配置说明，适用于半导体器件可靠性研究。
https://www.eeworm.com/dl/527/328716.html
通讯/手机编程
本程序是对V-BLAST系统及其检测算法的仿真
本程序是对V-BLAST系统及其检测算法的仿真，可采用BPSK,QPSK,16QAM,64QAM调制。检测算法为ML，MMSE,ZF,以及采用迫零的连续干扰消除检测算法。
https://www.eeworm.com/dl/930346.html
技术资料
c50-v and c52-v控制单元的测试标准
This document is the test specification for the control unit c50-v and c52-v, respectively, of the c
https://www.eeworm.com/dl/892871.html
技术资料
基于迫零检测的异步V-BLAST最优发射功率分配
摘 要：由于异步发射V-BLAST 各路子流的符号在时间上未对齐，同步V-BLAST 所采用的逐符号功率分配方法不再适用。针对这个问题，该文提出了一种以块平均误比特率为优化目标，逐符号块进行功率分配的方法。该方法首先计算每个符号的瞬时信噪比，然后求出异步符号块的平均误比特率，最后求解优化问题得到 ...
https://www.eeworm.com/dl/534/319168.html
其他
充电器源程序,采用ETA的MCU,,,,恒流,恒压,DEL V等检测
充电器源程序,采用ETA的MCU,,,,恒流,恒压,DEL V等检测
https://www.eeworm.com/dl/1016358.html
技术资料
半导体C-V测量基础
半导体C-V测量基础是一份系统讲解电容-电压测量原理与应用的技术文档，涵盖半导体器件特性分析、测量方法及数据解读，适用于微电子与半导体领域的研究人员和工程师。
https://www.eeworm.com/dl/666/262624.html
Delphi控件源码
检测URL有效工具(批量检测)检测 URL有效工具(批量检测)
检测URL有效工具(批量检测)检测 URL有效工具(批量检测)
https://www.eeworm.com/dl/502/31075.html
单片机编程
3-V TO 5.5-V MULTICHANNEL RS-2
The MAX3243E device consists of three line drivers, five line receivers, and a dual charge-pump circuit with±15-kV ESD (HBM and IEC61000-4-2, Air-Gap Discharge) and ±8-kV ESD (IEC61000-4-2, Contact Discharge)protection on serial-port connection pins. The device meets the requir ...
https://www.eeworm.com/dl/893447.html
技术资料
V-BLAST系统中一种基于噪声分析的简化最大似然检测算法
摘 要：该文基于对贝尔实验室垂直分层空时系统中的噪声分析，提出了一种简化的最大似然检测算法。该算法选取多维空间中参考直线附近的若干信号点构成候选子集，并利用最大似然准则在该子集中选取合适的向量作为对发射信号的最终估计。性能分析和仿真表明，该算法在保证接近最优误码性能的前提下，具有 ...