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技术资料 FPGA读写SD卡读取BMP图片通过LCD显示例程实验 Verilog逻辑源码Quartus工程文件

FPGA读写SD卡读取BMP图片通过LCD显示例程实验 Verilog逻辑源码Quartus工程文件+文档说明,FPGA型号Cyclone4E系列中的EP4CE6F17C8,Quartus版本17.1。1 实验简介在前面的实验中我们练习了 SD 卡读写,VGA 视频显示等例程,本实验将 SD 卡里的 BMP 图片读出,写入到外部存储器,再通过 VGA、LCD 等显示。本实验如果通过液晶屏 ...
https://www.eeworm.com/dl/744758.html
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单片机编程 单片机音乐中音调和节拍的确定方法

单片机音乐中音调和节拍的确定方法:调号-音乐上指用以确定乐曲主音高度的符号。很明显一个八度就有12个半音。A、B、C、D、E、F、G。经过声学家的研究,全世界都用这些字母来表示固定的音高。比如,A这个音,标准的音高为每秒钟振动440周。 升C调:1=#C,也就是降D调:1=BD;277(频率)升D调:1=#D,也就是降E调:1=BE ...
https://www.eeworm.com/dl/502/31327.html
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学术论文 基于FPGA的可编程技术的应用

随着微电子技术和计算机技术的迅猛发展,尤其是现场可编程器件的出现,为满足实时处理系统的要求,诞生了一种新颖灵活的技术——可重构技术。它采用实时电路重构技术,在运行时根据需要,动态改变系统的电路结构,从而使系统既有硬件优化所能达到的高速度和高效率,又能像软件那样灵活可变,易于升级,从而形成可重构系统。 ...
https://www.eeworm.com/dl/514/12550.html
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技术资料 基于FPGA的可编程技术的应用

随着微电子技术和计算机技术的迅猛发展,尤其是现场可编程器件的出现,为满足实时处理系统的要求,诞生了一种新颖灵活的技术——可重构技术。它采用实时电路重构技术,在运行时根据需要,动态改变系统的电路结构,从而使系统既有硬件优化所能达到的高速度和高效率,又能像软件那样灵活可变,易于升级,从而形成可重构系统。 ...
https://www.eeworm.com/dl/919768.html
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技术资料 嵌入式Linux应用程序开发(完整版)

入式Linux应用程序开发标准教程这本书,在业内有着非常多的赞美,非常适合嵌入式初学者在嵌入式Linux应用开发这一块的学习,非常系统全面的介绍。详细讲解了Linux系统的基本知识、Linux系统的安装、Linux图形界面、Linux字符界面、Linux常用命令、Linux应用软件、Linux系统启动、Linux系统管理和维护、Linux服务器配置、she ...
https://www.eeworm.com/dl/845164.html
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技术资料 电阻-电容-电感 Altium Designer AD原理图库元件库

电阻-电容-电感 Altium Designer AD原理图库元件库CSV text has been written to file : 0.1 - 电阻-电容-电感.csvLibrary Component Count : 35Name                Description---------------------------------------------------------------------------------------------- ...
https://www.eeworm.com/dl/830973.html
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PCB相关 磁芯电感器的谐波失真分析

磁芯电感器的谐波失真分析 摘  要:简述了改进铁氧体软磁材料比损耗系数和磁滞常数ηB,从而降低总谐波失真THD的历史过程,分析了诸多因数对谐波测量的影响,提出了磁心性能的调控方向。 关键词:比损耗系数, 磁滞常数ηB ,直流偏置特性DC-Bias,总谐波失真THD  Analysis on THD of the fer rite co res u ...
https://www.eeworm.com/dl/501/22302.html
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可编程逻辑 磁芯电感器的谐波失真分析

磁芯电感器的谐波失真分析 摘  要:简述了改进铁氧体软磁材料比损耗系数和磁滞常数ηB,从而降低总谐波失真THD的历史过程,分析了诸多因数对谐波测量的影响,提出了磁心性能的调控方向。 关键词:比损耗系数, 磁滞常数ηB ,直流偏置特性DC-Bias,总谐波失真THD  Analysis on THD of the fer rite co res u ...
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VIP专区 VIP专区-电子产品老化相关标准资料

资源包含以下内容:1.GBT2423.07-1995 电工电子产品环境试验第2部分 试验方法试验ec和导则倾跌与翻倒(主要用于设备型样品).pdf2.GBT2423.08-1995 电工电子产品环境试验第2部分 试验方法试验ed自由跌落.pdf3.GBT2423.09-2001 电工电子产品环境试验第2部分 试验方法试验cb设备用恒定湿热.pdf4.GBT2423.10-1995 电工电子产品环 ...
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VIP专区 电子产品老化相关资料及标准合集

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