搜索结果
找到约 7,699 项符合
ST公司 的查询结果
按分类筛选
微处理器开发 嵌入式系统设计与开发实例详解--基于ARM的应用(采用ARM7TDMI内核的、三星公司推出的S3C44B0X) 第一部分包含:ADCtest,ARPscan,ColorLCDtest,EINTtes
嵌入式系统设计与开发实例详解--基于ARM的应用(采用ARM7TDMI内核的、三星公司推出的S3C44B0X)
第一部分包含:ADCtest,ARPscan,ColorLCDtest,EINTtest,Ethernet,FAT16test,Flashtest,guiHelloworld.
微处理器开发 嵌入式系统设计与开发实例详解--基于ARM的应用(采用ARM7TDMI内核的、三星公司推出的S3C44B0X) 第二部分:guiHZK,guiMemDev,guiScale,guiWM
嵌入式系统设计与开发实例详解--基于ARM的应用(采用ARM7TDMI内核的、三星公司推出的S3C44B0X)
第二部分:guiHZK,guiMemDev,guiScale,guiWM
微处理器开发 嵌入式系统设计与开发实例详解--基于ARM的应用(采用ARM7TDMI内核的、三星公司推出的S3C44B0X) 第三部分: Helloworld,IICtest,IOtest,Nandflasht
嵌入式系统设计与开发实例详解--基于ARM的应用(采用ARM7TDMI内核的、三星公司推出的S3C44B0X)
第三部分:
Helloworld,IICtest,IOtest,Nandflashtest
微处理器开发 嵌入式系统设计与开发实例详解--基于ARM的应用(采用ARM7TDMI内核的、三星公司推出的S3C44B0X) 第四部分:PDAtest,Pingtest,RTCtest,SDRAMtest
嵌入式系统设计与开发实例详解--基于ARM的应用(采用ARM7TDMI内核的、三星公司推出的S3C44B0X)
第四部分:PDAtest,Pingtest,RTCtest,SDRAMtest
微处理器开发 嵌入式系统设计与开发实例详解--基于ARM的应用(采用ARM7TDMI内核的、三星公司推出的S3C44B0X) 第五部分:Timertest,Touchtest,UARTtest,ucos_ex1
嵌入式系统设计与开发实例详解--基于ARM的应用(采用ARM7TDMI内核的、三星公司推出的S3C44B0X)
第五部分:Timertest,Touchtest,UARTtest,ucos_ex1
微处理器开发 嵌入式系统设计与开发实例详解--基于ARM的应用(采用ARM7TDMI内核的、三星公司推出的S3C44B0X) 第六部分:ucos_ex2,ucos_ex3,UDPtest,USBN9603demo
嵌入式系统设计与开发实例详解--基于ARM的应用(采用ARM7TDMI内核的、三星公司推出的S3C44B0X)
第六部分:ucos_ex2,ucos_ex3,UDPtest,USBN9603demo,USBtest
企业管理 公司管理系统 有一般的管理功能 .2005 年 作品
公司管理系统 有一般的管理功能 .2005 年 作品
单片机开发 MF800M射频读写模块采用PHILIPS公司的Mifare技术设计的微型嵌入式、非接触式IC卡读写模块。内嵌ISO14443 Type A协议解释器,并可直接驱动射频天线
MF800M射频读写模块采用PHILIPS公司的Mifare技术设计的微型嵌入式、非接触式IC卡读写模块。内嵌ISO14443 Type A协议解释器,并可直接驱动射频天线
电子书籍 关于TI公司TMS320C6000系列DSP原理与应用开发的经典教材
关于TI公司TMS320C6000系列DSP原理与应用开发的经典教材
通讯编程文档 作者应用TI公司的TMS320VC5402和AMCC公司的S5920设计了一个数据采集/处理卡
作者应用TI公司的TMS320VC5402和AMCC公司的S5920设计了一个数据采集/处理卡,自己编制了DSP处理软件。