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技术资料 基于STM32单片机的嵌入式EDA识别技术研究
传统的识别技术步骤繁琐,精度不佳。因此提出基于STM32单片机的嵌入式EDA识别技术改善研究。通过结合聚类算法对嵌入式EDA识别算法进行优化,并根据计算结果对嵌入式EDA识别步骤进行简化处理,最终实现对嵌入式EDA识别技术的有效改善。最后通过实验证实基于STM32单片机的嵌入式EDA识别技术相对于传统识别技术有较高的准确性和实 ...
技术资料 EDA课程设计报告(交通信号控制器的VHDL的设计)
EDA课程设计报告(交通信号控制器的VHDL的设计)，vhdl语言！！1
企业管理 实验室资源管理系统 实验室人事资料管理、实验室设备管理、实验课程管理及实验室软件资料管理及相关分析统计功能
实验室资源管理系统 实验室人事资料管理、实验室设备管理、实验课程管理及实验室软件资料管理及相关分析统计功能
嵌入式/单片机编程 基于单片机实验装置的A/DD/A实验 实验台能够实现交通灯打印等
基于单片机实验装置的A/DD/A实验
实验台能够实现交通灯打印等
微处理器开发 a/d驱动实验与d/a驱动实验 基于清华大学的TEB-44B0实验平台
a/d驱动实验与d/a驱动实验
基于清华大学的TEB-44B0实验平台
其他 离散卷积计算 实验步骤： 主界面下进入实验五的“离散卷积计算”子实验
离散卷积计算
实验步骤：
主界面下进入实验五的“离散卷积计算”子实验，
输入有限长序列 x(n)
输入有限长序列 h(n)
鼠标单击确定按钮，以数值和图形两种方式显示卷积结果
其他 DFT 计算 实验步骤： 主界面下进入实验九的“DFT计算”的子实验。 输入取样点数
DFT 计算
实验步骤：
主界面下进入实验九的“DFT计算”的子实验。
输入取样点数，即有限长序列 x(n) 的长度。
输入信号表达式，或直接输入离散序列。
鼠标单击确定按钮，显示原序列及 DFT 系数的幅度、相位。
行业发展研究 随着集成电路产业的超快速发展,IC设计业已成为主流趋势,每日更新EDA设计及IC设计的新闻趋势和新产品动态,提供IC设计技术文库和应用实例.介绍EDA工具的使用,帮助工程师们更深入理解EDA设计及IC
随着集成电路产业的超快速发展,IC设计业已成为主流趋势,每日更新EDA设计及IC设计的新闻趋势和新产品动态,提供IC设计技术文库和应用实例.介绍EDA工具的使用,帮助工程师们更深入理解EDA设计及IC设计技术,并实践到工作中。
单片机开发 AVR单片机 实验教学指导书 实验一 实训装置的认识与软件使用 实验二 彩灯控制 实验三 键控加减计数 实验四 外部中断的使用 实验五 数码管动态扫描显示 实验六 实时时钟显示 实
AVR单片机
实验教学指导书
实验一 实训装置的认识与软件使用
实验二 彩灯控制
实验三 键控加减计数
实验四 外部中断的使用
实验五 数码管动态扫描显示
实验六 实时时钟显示
实验七 高频脉冲频率的测量
实验八 低频脉冲频率的测量
实验九 脉宽调制的实验
实验十 显示驱动器7219的使用
实验十一 7219驱动8位8段数码管的时钟 ...