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https://www.eeworm.com/dl/930554.html
技术资料
基于FPGA的ADC并行测试方法研究
高性能ADC产品的出现，给混合信号测试领域带来前所未有的挑战。并行ADC测试方案实现了多个ADC测试过程的并行化和实时化，减少了单个ADC的平均测试时间，从而降低ADC测试成本。本文实现了基于FPGA的ADC并行测试方法。在阅读相... ...
https://www.eeworm.com/dl/931316.html
技术资料
基于FPGA的ADC并行测试方法研究
高性能ADC产品的出现，给混合信号测试领域带来前所未有的挑战。并行ADC测试方案实现了多个ADC测试过程的并行化和实时化，减少了单个ADC的平均测试时间，从而降低ADC测试成本。本文实现了基于FPGA的ADC并行测试方法。在阅读相关文献的基础上，总结了常用ADC参数测试方法和测试流程。使用FPGA实现时域参 ...
https://www.eeworm.com/dl/947204.html
技术资料
使用抖动信号改进ADC的性能.pdf
资料->【B】电子技术->【B3】传感测量->【1】传感检测->【ADC、DAC】->使用抖动信号改进ADC的性能.pdf
https://www.eeworm.com/dl/967726.html
技术资料
ADC0804写入时序图.doc
模拟/数字转换芯片ADC0804的使用，学习A/D芯片ADC0804的接线和转换的基本原理