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ADC评估 的查询结果
单片机编程 利用过采样技术提高ADC测量分辨率
提出了用“过采样”技术使在有用的测量频带内的信噪比得到改善, 从而提高ADC 测量的分辨率。并利用Matlab 对其结论进行仿真, 且在TMS320L F2407 DSP 上予以实现,结果表明信噪比和测量分辨率明显提高。
单片机编程 STM32L152-EVAL 评估板用户指南
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单片机编程 ST STM32L152 32位MCU开发评估方案
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单片机编程 STC12C5A60S2系列ADC测试结果(使用12位DA测试--4096个测试点)
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单片机编程 Luminary的ADC过采样应用笔记
Luminary的ADC过采样应用笔记
本文主要介绍一种Luminary单片机高精度低成本AD转换的实现方法,解决在某些要求高精度ADC领域的Luminary应用问题。
单片机编程 基于HT66Fx0使用ADC所有功能
基于HT66Fx0使用ADC所有功能
本范例以HT66F40 为例,连续开启8 个A/D 通道,启动A/D 转换,并将转换结果进行保存,实现多路电压采集功能,并介绍如何用一个内建的1.25V 的参考电压来实现电源电压的采集,以及实现A/D 精确取样。
单片机编程 EVALSPEAR600评估板材料清单
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EXCELL格式,BOM表
单片机编程 DevKit8000评估套件简介及应用
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OMAP3530应用处理器集成600-MHz ARM Cortex-A8核及430-MHz TMS320C64x DSP核 板载128MByte DDR SDRAM,32bit 板载128MByte NAND Flash
单片机编程 高速ADC的新型串行接口标准JESD204应用指南
作为具有丰富模拟器件设计经验的数据转换器领导企业, NXP半导体公司提供丰富多样的高质量的数据转换解决方案。 在NXP半导体公司的高速模数转换器(ADC)产品中,您可以根据最终应用选择最适合的产品,无论是行业应用产品,还是消费类电子产品。我们提供完整的解决方案以满足快速上市的需求,或者提供专用的产品,以满足 ...