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https://www.eeworm.com/dl/kbcluoji/40458.html
可编程逻辑
共模干扰差模干扰及其抑制技术分析
共模干扰和差模干扰是电子、
电气产品上重要的干扰之一，它们
可以对周围产品的稳定性产生严重
的影响。在对某些电子、电气产品
进行电磁兼容性设计和测试的过程
中，由于对各种电磁干扰采取的抑
制措施不当而造成产品在进行电磁
兼容检测时部分测试项目超标或通
不过EMC 测试，从而造成了大 ...
https://www.eeworm.com/dl/544/41796.html
测试测量
电子产品可靠性分析应用
电子产品可靠性分析、评价的重点在于确定其高风险环节。基于充分考量失效机理的分析目的，采用了“元器件-失效模式-失效机理-影响因素”相关联的分析方法，通过相关物理模型和一个电子产品分析案例，实现了利用这一方式确定高风险环节和分析可靠性的全过程，得到了这一方法比采用FMEA等失效 ...