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一个自己编写的全数字锁相环及其测试向量

一个自己编写的全数字锁相环及其测试向量，比较简单但功能基本达到。
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https://www.eeworm.com/dl/619/245511.html Linux/Unix编程

三星公司的ARM44B0的LCD测试程序

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https://www.eeworm.com/dl/619/245512.html Linux/Unix编程

三星公司的ARM44B0的NANDFLASH测试程序

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三星公司的ARM44B0的TCPIP测试程序
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S3C44B0开发板中FLASH测试程序

S3C44B0开发板中FLASH测试程序
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https://www.eeworm.com/dl/686/247593.html VC书籍

一般认为单元测试应紧接在编码之后

一般认为单元测试应紧接在编码之后，当源程序编制完成并通过复审和编译检查，便可开始单元测试。测试用例的设计应与复审工作相结合，根据设计信息选取测试数据，将增大发现上述各类错误的可能性。在确定测试用例的同时，应给出期望结果。 ...
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https://www.eeworm.com/dl/618/248199.html 驱动编程

能对电子式电能表通过485接口进行通讯测试的软件

能对电子式电能表通过485接口进行通讯测试的软件
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https://www.eeworm.com/dl/534/248836.html 其他

EP1C6Q240C8的examples lcd测试程序

EP1C6Q240C8的examples lcd测试程序
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EP1C6Q240C8的examples flash测试程序

EP1C6Q240C8的examples flash测试程序
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https://www.eeworm.com/dl/687/250018.html 其他嵌入式/单片机内容

三星SMDK2410开发板测试程序 ARM9

三星SMDK2410开发板测试程序 ARM9
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