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技术资料 vivado永久license文件通吃所有版本(已经测试过可用)

通吃所有的版本,有史以来期限最长功能最多的_Vivado_的license文件
https://www.eeworm.com/dl/855311.html
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技术资料 Type C 接口的技术演进与完整的测试方案

电子设备的外部数据、视频接口存在着规范和标准之争,USB作为PC和移动设备中最常见的高速数据接口,一直备受关注。USB IF 最新的USB 3.1规范更加体现其通用性,具体变化包括USB PD、Type C连接器等。但Type C作为未来的新型接口,不仅只用于USB技术,而且同样用于显示和其它接口技术如DisplayPort、Thunderbolt、MHL等。 本 ...
https://www.eeworm.com/dl/856112.html
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技术资料 蓄电池内阻智能测试仪的设计

蓄电池内阻智能测试仪的设计,挺好的资源可以看一下,了解一下
https://www.eeworm.com/dl/856242.html
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技术资料 2016半导体器件测试技术与 Keithley解决方案

Tektronix公司关于“2016半导体器件测试技术与 Keithley解决方案”演讲的PPT资料。
https://www.eeworm.com/dl/857629.html
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技术资料 基于STM32F103ZE的CAN测试程序

基于STM32F103ZE的CAN测试程序-Based STM32F103ZE the CAN test program
https://www.eeworm.com/dl/859201.html
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技术资料 基于STM32F103ZE的DAC测试程序

基于STM32F103ZE的DAC测试程序-The DAC test procedure based STM32F103ZE
https://www.eeworm.com/dl/859202.html
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技术资料 如何用电子负载来测试电池的容量

日常生活中经常会看到各种各样的电池,各种电池都有各自的容量,同一种电池,放电电流不同,放出来的容量也会不同,平常我们使用的电池容量是怎么测试出来的呢?
https://www.eeworm.com/dl/860433.html
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技术资料 针对电子测试测量的RF和微波解决方案

RF和微波IC广泛用于电子测试和测量仪器,比如频谱分析仪、网络分析仪、信号发生器和通信测试仪。当无线通信在我们的生活中变得越来越普及,比如4G/5G和物联网,对于它们的测试基准的要求也在不断提高。在本文中,我们将讨论ADI产品如何融入相关信号链。 ...
https://www.eeworm.com/dl/864893.html
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技术资料 开关电源的电磁兼容性设计与测试

开关电源的电磁兼容性设计与测试,钱振宇老先生的经典著作
https://www.eeworm.com/dl/865546.html
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技术资料 一种高绝缘电阻测试仪的设计

电子设计工程 2015年4月,一种高绝缘电阻测试仪的设计
https://www.eeworm.com/dl/866228.html
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