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技术资料 AVR400低成本AD转换器

本应用笔记关注的目标，是需要模数转换器件场合下的低成本和低空间占用。它描述了怎样仅仅使用两个外围组件：一个电阻和一个电容，构成一个简易的模数转换单元。这一设计使得廉价而紧凑的模数转换电路成为可能。
https://www.eeworm.com/dl/1001876.html
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技术资料 AVR401_8位AD转换器

想要低成本实现高精度AD转换？AVR401应用笔记教你用AVR微控制器搭建双斜率A/D转换器，仅需6个分立元件和5个引脚，适用于带比较器的AVR系列芯片，适合嵌入式开发中的信号采集场景。
https://www.eeworm.com/dl/1001882.html
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技术资料 STM32内部AD采样程序--运行通过

适用于STM32的内部AD采样程序，实测稳定运行，支持0~33V电压测量。结构完整，经过多个项目验证，可直接用于毕业设计或工业场景，代码简洁易扩展。
https://www.eeworm.com/dl/1003010.html
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技术资料 基于avr单片机的ad转换程序

基于 AVR MEGA168 的 AD 转换程序，采用定时器中断机制实现每 10ms 精准采集模拟信号，通过 LED 实时显示转换结果，具备高效稳定的数据采集能力。
https://www.eeworm.com/dl/1003235.html
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技术资料 dsp-AD采样-tms320f2812

循序渐进讲解TMS320F2812的AD采样模块开发，结合实际应用场景，深入解析ADC配置与数据采集流程。适合从事嵌入式系统和信号处理的开发者掌握关键技巧。
https://www.eeworm.com/dl/1004012.html
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技术资料 AD中关于绕等长的方式与方法

从基础设置到高级技巧，系统讲解Altium Designer中实现信号线等长设计的多种方法。掌握布线策略与规则配置，提升高速电路设计效率。
https://www.eeworm.com/dl/1005831.html
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电源技术 可测试纹波的电子负载---JT63系列负载纹波测试说明

可测试纹波的电子负载---JT63系列负载纹波测试说明
https://www.eeworm.com/dl/505/23729.html
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Java编程 一个基于JUnit测试框架的关于数据库的测试框架

一个基于JUnit测试框架的关于数据库的测试框架，不错！
https://www.eeworm.com/dl/633/119694.html
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驱动编程 监视CPU使用率的历史情况,个位可以下载后测试测试

监视CPU使用率的历史情况,个位可以下载后测试测试
https://www.eeworm.com/dl/618/220672.html
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单片机开发 利用单片机仿真JTAG测试驱动程序,可做测试烧录等

利用单片机仿真JTAG测试驱动程序,可做测试烧录等
https://www.eeworm.com/dl/648/231696.html
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