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技术资料 GY-52测试程序

GY-52三轴加速度陀螺仪传感器stm32测试程序
https://www.eeworm.com/dl/872774.html
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技术资料 汽车电子电性能测试

汽车电子电性能测试评估标准ISO16750相关介绍，如常见的过压测试，反接测试、寄生电流及电压跌落等测试
https://www.eeworm.com/dl/874230.html
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技术资料 240128LCD测试程序

240128LCD测试程序。。。。。。。
https://www.eeworm.com/dl/875723.html
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技术资料 开关电源测试规范

开关电源测试规范 说明 as
https://www.eeworm.com/dl/875965.html
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技术资料 SRAM测试程序及应用

sram的测试程序，用verilog编写，对sram进行读写操作，学习fpga的可以借鉴一下。 包括完整的测试代码及工程文件，还有测试文件及仿真波形。非常适合初学。
https://www.eeworm.com/dl/876144.html
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技术资料 ADC动态性能测试.pdf

资料->【B】电子技术->【B3】传感测量->【1】传感检测->【ADC、DAC】->ADC动态性能测试.pdf
https://www.eeworm.com/dl/877574.html
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技术资料 硬件及芯片测试.pdf

资料->【B】电子技术->【B5】通信技术->【1】通信协议->【USB、OTG】->USB开发资料->单片机读写U盘开发手册PB375A-SDK->PB375A-SDK->硬件及芯片测试.pdf
https://www.eeworm.com/dl/879331.html
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技术资料 IC测试技术--设计验证

IC测试技术--设计验证，有需要的朋友可以下来看看
https://www.eeworm.com/dl/892291.html
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技术资料 FPGA测试方法研究.rar

FPGA(Field Programmable Gate Arrays)是目前广泛使用的一种可编程器件，FPGA的出现使得ASIC(Application Specific Integrated Circuits)产品的上市周期大大缩短，并且节省了大量的开发成本。目前FPGA的功能越来越强大，满足了目前集成电路发展的新需求，但是其结构同益复杂，规模也越来越大，内部资源的种类也R益丰富，但 ...
https://www.eeworm.com/dl/897414.html
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技术资料 无OS测试程序.rar

天嵌公司2440开发套件，无OS测试程序--NAND FLASH,
https://www.eeworm.com/dl/898254.html
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