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技术资料 AD转换精度理想量化数学模型

基于信号处理理论构建的分时段并行AD转换精度理想量化模型，采用高精度数值算法实现量化误差最小化，适用于高精度数据采集系统设计与优化。
https://www.eeworm.com/dl/1001094.html
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技术资料 AVR121过采样提高AD精度

通过过采样技术，AVR121实现对AVR单片机10位ADC的精度提升，基于信号处理原理优化采样率与数据平均，有效提高转换分辨率。适用于高精度测量场景。
https://www.eeworm.com/dl/1001867.html
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技术资料 AD7656与DSP的接口设计

适用于高精度数据采集系统开发，详细解析AD7656与DSP的硬件连接及通信协议，提升信号处理效率。涵盖时序配置、数据传输优化等关键环节，适合嵌入式系统工程师参考。
https://www.eeworm.com/dl/1002840.html
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技术资料 先常规后反向电压补偿AD研究

研究先常规后反向电压补偿的双积分A/D转换方法，适用于高精度模拟信号处理场景。包含电路设计、算法优化及误差分析内容，适合从事电子测量与信号处理的技术人员参考。
https://www.eeworm.com/dl/1003910.html
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技术资料 高精度双积分AD与mcu接口

涵盖高精度双积分ADC与MCU接口的实现方案，深入解析信号采集与数据处理的协同机制，适用于嵌入式系统开发与精密测量应用。
https://www.eeworm.com/dl/1003916.html
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技术资料 基于CPLD实现的隔离双积分AD

从基础原理到实际应用，循序渐进讲解如何利用CPLD实现隔离双积分ADC设计，适合电子工程学习者掌握数字逻辑与模拟信号处理的结合方法。
https://www.eeworm.com/dl/1003927.html
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技术资料 STM32_AD转换的必看资料

难得一见的STM32 AD转换完整资料，涵盖配置、校准与调试技巧，适合深入掌握模拟信号处理核心逻辑。
https://www.eeworm.com/dl/1005760.html
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单片机开发 摘 要： 本文件是AD测试实验；使用外部22.1184MHz晶振,将跳线器JP3短接 * 功能：开机显示"铭朗科技

摘 要： 本文件是AD测试实验；使用外部22.1184MHz晶振,将跳线器JP3短接 * 功能：开机显示"铭朗科技，WWW.MLARM.COM"信息，为待机界面。定义 A ~ F 为功能
https://www.eeworm.com/dl/648/307557.html
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单片机编程 STC12C5A60S2系列ADC测试结果(使用12位DA测试--4096个测试点)

STC12C5A60S2系列ADC测试结果(使用12位DA测试--4096个测试点) 
https://www.eeworm.com/dl/502/29015.html
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单片机开发 HT1621芯片测试程序 本测试程序能够测试HT1621的每一个字段

HT1621芯片测试程序 本测试程序能够测试HT1621的每一个字段，依次点亮
https://www.eeworm.com/dl/648/283930.html
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