搜索结果
找到约 66 项符合
1990 的查询结果
按分类筛选
技术资料 JTAG技术及其在FLASH编程中的应用
 兴起于上世纪80年代末，并于1990年被IEEE 标准协会接纳为IEEE1149.1标准的JTAG 技术，其产生的背景是对高密度集成电路板进行故障检测，现在已被广泛用于支持芯片测试、设备编程、混合信号测试和现场服务等领域。本文首先介绍了」TAG 接口的定义及其具体结构，对边界扫描的具体工作过程进行了分析，并列举了几种常用功 ...
技术资料 锂电池电量检测系统设计
锂离子电池是1990年后逐渐发展起来的新一代电池，锂电池较传统的镍镉、镍氢等电池在很多方面具有优势，例如工作电压高、质量轻、能量密度大、体积小、自放电率小、无记忆效应、循环寿命长等特点，因此，锂电池作为主要能源在笔记本、手机等便携式电子设备上的应用已非常普及。如今，新面市的磷酸铁锂电池拥有非常好的市场前 ...
技术资料 JTAG基础知识
IEEE1149.1的产生1985年由IBM、AT&T、Texas Instruments、Philips Electronics NV、Siemens、Alcatel和Ericsson等公司成立的JETAG（Joint European Test Action Group）提出了边界扫描技术。1986年由于其它地区的一些公司的加入，JETAG改名为JTAG。1988年JTAG提出了标准的边界扫描体系结构，名称叫Boundary-Scan Architectu ...
技术资料 C语言参考手册 第5版 哈比森 清晰版
《C语言参考手册(原书第5版)》是一本C语言的权威参考手册，对C语言的基本概念和运行函数库提供了完整的描述，并强调了以正确性、可移性和可维护性为基本出发点的良好编程风格。《C语言参考手册(原书第5版)》对C语言描述比其他任何书籍都要更加清晰和详细。《C语言参考手册(原书第5版)》涵盖的内容包括：标准C（1999）：新版 ...
VIP专区 VIP专区-电子产品老化相关标准资料
资源包含以下内容：1.GBT2423.07-1995 电工电子产品环境试验第2部分 试验方法试验ec和导则倾跌与翻倒(主要用于设备型样品).pdf2.GBT2423.08-1995 电工电子产品环境试验第2部分 试验方法试验ed自由跌落.pdf3.GBT2423.09-2001 电工电子产品环境试验第2部分 试验方法试验cb设备用恒定湿热.pdf4.GBT2423.10-1995 电工电子产品环 ...
VIP专区 电子产品老化相关资料及标准合集
GBT2423.51-2000 电工电子产品环境试验第2部分 试验方法试验ke 流动混合气体腐蚀试验.pdf
535KB2019-03-29 13:34
GBT2423.50-1999 电工电子产品环境试验第2部分 试验方法试验cy 恒定湿热主要用于元件的加速试验.pdf
319KB2019-03-29 13:34
GBT2423.49-1997 电工电子产品环境试验第2部分 试验方法试验fe 振动--正弦拍频法.pd ...