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测试测量  WP-Z系列数字控制仪之测量显示

WP-Z系列数字显示控制仪多功能电气显示仪表

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测试测量  电子系统热管理设计与验证中的结温估算与测量

针对电子系统容易出现的热失效问题，论述在电子系统的热管理设计与验证中，对半导体器件结温的估算和测量方法。通过测量半导体器件内部二极管参数，来绘制二极管正向压降与其温度关系曲线，进而求解出器件的结温估算值，以指导热管理设计；采用热分布测量和极值测量来计算器件的实际结温，对热管理设计进行评估、验证。使用 ...

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测试测量  IPC-9701A表面贴装锡焊件性能测试与鉴定

此规范建立了专用的测试方法，用于评估电子组装件表面贴装焊接件的性能及可靠性。对应于刚性电路结构、挠性电路结构和半刚性电路结构，表面贴装焊接件的性能和可靠性被进一步划分为不同等级。此外，还提供了一种相似方法，可以在电子组装件的使用环境与条件下将这些性能测试结果与焊接件可靠性关联起来. ...

https://www.eeworm.com/dl/544/41889.html

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测试测量  逻辑分析仪在RFID开发中的应用

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测试测量  高吞吐量开关系统实现半导体测量应用指南

在半导体测试应用中获得最大吞吐量并最大程度提高低电流性能吉时利最新的半导体开关主机—— 707B六槽矩阵开关主机和 708B单槽矩阵开关主机。这些新的主机专门为实验室和生产环境的半导体测试应用优化，具有极高的指令到连接速度。此应用笔记涉及直流和交流特性分析的开关系统配置，开关系统定时考虑，源和测量仪器的协调 ...

https://www.eeworm.com/dl/544/41962.html

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电子元器件应用  过零双向可控硅光耦MOC3063,MOC3041,TLP363J实际参数应用实例

潮光整理资料：过零双向可控硅光耦应用原理

https://www.eeworm.com/dl/529/42046.html

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电子元器件应用  使用HCNR201线性光耦的原理与电路设计

使用HCNR201线性光耦的原理与电路设计

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电子元器件应用  AVAGO安华高品牌光耦参数

AVAGO安华高品牌光耦参数

https://www.eeworm.com/dl/529/42096.html

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电子元器件应用  TC4011门电路

TC4011门电路

https://www.eeworm.com/dl/529/42173.html

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接口技术  9针RS232-422-485接口定义

好的接口技术

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