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过采样技术 的查询结果
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单片机编程 利用过采样技术提高ADC测量分辨率
提出了用“过采样”技术使在有用的测量频带内的信噪比得到改善, 从而提高ADC 测量的分辨率。并利用Matlab 对其结论进行仿真, 且在TMS320L F2407 DSP 上予以实现,结果表明信噪比和测量分辨率明显提高。
单片机编程 Stellaris系列微控制器的ADC过采样技术
Luminary Micro在Stellaris系列微控制器的部分产品中提供了模数转换器（ADC）模块。ADC的硬件分辨率为10位，但由于噪音和其它使精度变小的因素的影响，实际的精度小于10位。本应用文档提供了一个基于软件的过采样技术，从而使转换结果的有效位数（ENOB）得到了改善。文档中描述了对输入信号执行过采样的方法，以及在精度和 ...
DSP编程 基于DSP的过采样技术
在使用DSP进行数字信号处理时，应用过采样技术可以增加其内置模数转换器的分辨率。讨论了应用过采样技术的原理、如何使用TMS320LF2407来实现过采样，以及在软件上的实现方法。
嵌入式综合 ARM Cortex-M3的过采样技术
利用过采样技术可在不需片外ADC器件的情况下,达到同样的采样效果。将Cortex-M3内核与过采样技术相结合,不仅能够降低成本,而且提升了系统的运行速率、可靠性与稳定性。
汇编语言 采用过采样技术实现16位精度温度采样 采用过采样技术实现16位精度温度采样 采用过采样技术实现16位精度温度采样
采用过采样技术实现16位精度温度采样
采用过采样技术实现16位精度温度采样
采用过采样技术实现16位精度温度采样
论文 单相并网逆变器并网电流的过采样技术_蔡逢煌
单相并网逆变器并网电流的过采样技术_蔡逢煌
学术论文 16bit音频过采样DAC的FPGA设计实现.rar
基于∑-△噪声整形技术和过采样技术的数模转换器(DAC)可以可靠地把数字信号转换成为高精度的模拟信号。采用这一结构进行数模转换具有诸多优点,例如极低的失配噪声和高的可靠性,便于作为IP模块嵌入到其他芯片系统中等,更重要的是可以得到其他DAC结构所无法达到的精度和动态范围。在高精度测量、音频转换、汽车电子等领域有着 ...
单片机编程 通过过采样提高SOC单片机片内A_D分辨率
叙述了基于过采样技术,使用软件方法提高单片机片内A/ D 分辨率的基本原理及实现方法。给出了一个实现示例,将C8051F040 片内12 位分辨率ADC 提高到16 位分辨率。
单片机开发 用过采样和求均值提高ADC分辨率 很多应用需要使用模/数转换器 ADC 进行测量 这些应用所需要的分辨率取决于信号的动 态范围 必须测量的参数的最小变化和信噪比 SNR 因此 很多系统使用较高
用过采样和求均值提高ADC分辨率
很多应用需要使用模/数转换器 ADC 进行测量 这些应用所需要的分辨率取决于信号的动
态范围 必须测量的参数的最小变化和信噪比 SNR 因此 很多系统使用较高分辨率的片外ADC
然而也可以通过使用一些技术来达到较高的分辨率和SNR 本应用笔记介绍用过采样和求均值的方
法来提高模数转换的分辨率 ...