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https://www.eeworm.com/dl/842040.html
技术资料
集成电路测试技术基础
集成电路测试技术基础
https://www.eeworm.com/dl/843897.html
技术资料
手机emc测试与设计介绍
手机emc测试与设计介绍
https://www.eeworm.com/dl/845103.html
技术资料
讲解继电器的测试步骤
讲解继电器的测试步骤1、测触点电阻-用万能表的电阻档，测量常闭触点与动点电阻，其阻值应为0，(用更加精确方式可测得触点阻值在100亳欧以内);而常开触点与动点的阻值就为无穷大。由此可以区别出那个是常闭触点，那个是常开触点。2、测线楼电阻-可用万能表RX109档测量继电器线圈的阻值，从而判断该线圈 ...
https://www.eeworm.com/dl/845314.html
技术资料
IP防护等级及测试方法
防护等级多以IP后跟随两个数字来表示，用数字来明确防护的等级，第一个数字表示产品防尘、防止外物侵入的等级；第二个数字表示产品防湿气、防水侵入的密闭程度。数字越大，表示产品防护等级越高。(参照标准GB 4208-2008 外壳防护等级) ...
https://www.eeworm.com/dl/846278.html
技术资料
AVR单片机测试程序
该书为AVR单片机测试程序讲解文档，是一份十分不错的参考资料，感兴趣的可以下载看看，，，，，，，，，，，，，，，，，，，，，
https://www.eeworm.com/dl/847357.html
技术资料
NI半导体测试系统STS
使用半导体测试系统降低测试成本
半导体测试系统(STS)系列产品是一套利用NI测试技术的产品级测试系统，适用于半导体生产测试环境。STS在完全封闭的测试头里面整合了NI PXI平台、TestStand测试管理软件以及LabVIEW图形化编程工具。它采用“集成到测试头”的设计，把产品的所有关键测试资源整合在一起， ...