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单片机开发  基于keil 3环境下的lpc2132的pwm试验

基于keil 3环境下的lpc2132的pwm试验，共享

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微处理器开发  ES51-II开发板的试验代码,只最简单的51单片机内部资源操作试验代码,很适合51初学者,开发环境为KEIL

ES51-II开发板的试验代码,只最简单的51单片机内部资源操作试验代码,很适合51初学者,开发环境为KEIL

https://www.eeworm.com/dl/655/413133.html

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其他嵌入式/单片机内容  此文件是基于arm在Windows下的ADS1.2开发环境中实现的触摸屏试验

此文件是基于arm在Windows下的ADS1.2开发环境中实现的触摸屏试验

https://www.eeworm.com/dl/687/462750.html

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技术管理  一些国内和国外的标准。包含有：电工电子产品基本环境试验规程试验A 低温试验方法、电工电子产品基本环境试验规程试验B 高温试验方法、电子测量仪器质量检验规则等和SAE的一些标准

一些国内和国外的标准。包含有：电工电子产品基本环境试验规程试验A 低温试验方法、电工电子产品基本环境试验规程试验B 高温试验方法、电子测量仪器质量检验规则等和SAE的一些标准

https://www.eeworm.com/dl/642/474298.html

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行业应用文档  2423.1-2008 电工电子产品环境试验_第2部分：试验方法_试验A：低温.pdf

电工电子产品环境试验_第2部分：试验方法_试验A：低温.pdf 国家标准

https://www.eeworm.com/dl/502212.html

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行业应用文档  2423.1-2008 电工电子产品环境试验_第2部分：试验方法_试验A：高温.pdf

2423.1-2008 电工电子产品环境试验_第2部分：试验方法_试验A：高温国家标准

https://www.eeworm.com/dl/502213.html

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行业应用文档  2423.5-1995 电工电子产品环境试验_第2部分_试验方法_试验Ea和导则__冲击.pdf

2423.5-1995 电工电子产品环境试验_第2部分_试验方法_试验Ea和导则__冲击.pdf 国家规范

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电子书籍  GB-T 11279-1989 电子元器件环境试验使用导则.pdf

国标类相关专辑 313册 701MGB-T 11279-1989 电子元器件环境试验使用导则.pdf

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技术资料  GJB 150.3A-2009军用装配实验室环境试验方法第3部分：高温试验

我国军用装备环境试验标准GJB 150A对产品的可靠性提出要求，它涵盖了气候环境、机械环境等可靠性测试，该标准的主要用户为军方、警方、电信工程、建筑工地、户外测量等需要在户外工作的用户，这些用户的工作环境容易遭受碰撞、雨水、沙尘等，导致装备损坏。除了防震、防水、耐摔、防尘外，还可安装在野外车辆中使用。本部 ...

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技术资料  ISO 16750-1-2006(CH) 道路车辆——电气及电子设备的环境条件和试验

道路车辆——电气及电子设备的环境条件和试验

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