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VHDL/FPGA/Verilog DEMO2 数码管扫描显示电路/DEMO4 计数时钟 DEMO5 键盘扫描设计/DEMO6 波形发生器/DEMO7 用DAC实现电压信号检测/DEMO8 ADC电压测量/DEMO9 液晶驱动电路设计

DEMO2 数码管扫描显示电路/DEMO4 计数时钟 DEMO5 键盘扫描设计/DEMO6 波形发生器/DEMO7 用DAC实现电压信号检测/DEMO8 ADC电压测量/DEMO9 液晶驱动电路设计

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实用电子技术  十进计数管及其应用

十进计数管及其应用

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国标  GB／T 2828.1-2003 计数抽样检验程序第一部分

GB／T 2828.1-2003 计数抽样检验程序第一部分

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技术书籍  GB-T-2828.1-2003-计数抽样检验程序-第一部分-81页-5.2M.pdf

专辑类-国标类相关专辑-313册-701M GB-T-2828.1-2003-计数抽样检验程序-第一部分-81页-5.2M.pdf

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DSP编程  采用软件校正的TMS320f2812内置ADC采样值方案.rar

采用软件校正的TMS320f2812内置ADC采样值方案

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学术论文  基于FPGA的ADC并行测试方法研究.rar

高性能ADC产品的出现，给混合信号测试领域带来前所未有的挑战。并行ADC测试方案实现了多个ADC测试过程的并行化和实时化，减少了单个ADC的平均测试时间，从而降低ADC测试成本。本文实现了基于FPGA的ADC并行测试方法。在阅读相关文献的基础上，总结了常用ADC参数测试方法和测试流程。使用FPGA实现时域参数评估算法和频域参数 ...

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学术论文  LabVIEW计数滤波器在信号降噪中的应用

本文针对工业测试现场中方波频率信号的高频噪声污染问题，选用LabVIEW 中提供的脉宽滤波、数据采集等功能模块组建了虚拟计数滤波器，设计并实现了一种可靠、便捷的方波频率信号的数字滤波。工程实践

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学术论文  时分交替ADC系统数字校准算法

随着现代通信与信号处理技术的不断发展，对于高速高精度AD转换器的需求越来越大。但是，随着集成电路工艺中电路特征线宽的不断减小，在传统单通道ADC框架下同时实现高速、高精度的数模转换愈加困难。此时，时分交替ADC 作为... ...

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学术论文  基于FPGA的ADC并行测试方法研究

高性能ADC产品的出现，给混合信号测试领域带来前所未有的挑战。并行ADC测试方案实现了多个ADC测试过程的并行化和实时化，减少了单个ADC的平均测试时间，从而降低ADC测试成本。本文实现了基于FPGA的ADC并行测试方法。在阅读相关文献的基础上，总结了常用ADC参数测试方法和测试流程。使用FPGA实现时域参数评估算法和频域参数 ...

https://www.eeworm.com/dl/514/13846.html

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单片机编程  LM3S ADC例程多种采样触发方式

LM3S系列ADC例程：多种采样触发方式

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