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找到约 55,781 项符合 系统验证 的查询结果

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学术论文 图像压缩和AES加密算法的实现

本文对基于FPGA的CCSDS图像压缩和AES加密算法的实现进行了研究。主要完成的工作有: (1)深入研究CCSDS图像压缩算法,并根据其编码方案,设计并实现了相应的编解码器。从算法性能和硬件实现复杂度两个方面,将该算法与具有类似算法结构的JPEG2000和SPIHT图像压缩算法作比较分析; (2)利用硬件描述语言VerilogHDL实现CCSDS图 ...
https://www.eeworm.com/dl/514/12411.html
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学术论文 基于FPGA的软件无线电通信平台

软件无线电技术作为一种新的通信技术,其基本思想是构造一个通用硬件平台,使宽带A/D,D/A尽量靠近天线,在数字域完成信号处理,通过选用不同软件模块即可实现不同的通信功能,这样大大缩短了电台的研发周期。该技术在通信(尤其是在移动通信)领域有着迫切的需求和广阔的应用前景。 本文阐述了软件无线电的基础理论,对信号 ...
https://www.eeworm.com/dl/514/12994.html
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单片机开发 PIC单片机模拟串口 11.0592时钟 支持2400波特及以下稳定收发 一位起始

PIC单片机模拟串口 11.0592时钟 支持2400波特及以下稳定收发 一位起始,八位或九位数据,无校验,一位停止位 占用时钟1,和RB端口电平变化中断 HI-PICC编译平台 模拟收发管脚在m_usart.h中定义 PIC16F877A最小系统验证可用
https://www.eeworm.com/dl/648/389311.html
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技术资料 ICP中RF电源的功率控制的研究

本论文主要研究自激式RF电源的功率控制,主要分为七个部分:第部分主要介绍ICP仪器的发展历史、RF电源的主流技术路线及国内外研究现状,指出了存在的部分问题,确立了本文研究主题。第二部分简介了ICP仪器的系统结构,重点介绍等离子炬光源以及自激式RF电源。首先从系统的角度介绍了ICP仪器的组成及工作原理,然后对等离子 ...
https://www.eeworm.com/dl/836621.html
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学术论文 基于JTAG和FPGA的嵌入式SOC验证系统研究与设计.rar

随着半导体制造技术不断的进步,SOC(System On a Chip)是未来IC产业技术研究关注的重点。由于SOC设计的日趋复杂化,芯片的面积增大,芯片功能复杂程度增大,其设计验证工作也愈加繁琐。复杂ASIC设计功能验证已经成为整个设计中最大的瓶颈。 使用FPGA系统对ASIC设计进行功能验证,就是利用FPGA器件实现用户待验证的IC设计。 ...
https://www.eeworm.com/dl/514/9206.html
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学术论文 系统芯片SoC原型验证技术

随着系统芯片(SoC)设计复杂度不断增加,使得缩短面市时间的压力越来越大。虽然IP核复用大大减少了SoC的设计时间,但是SoC的验证仍然非常复杂耗时。SoC和ASIC的最大不同之处在于它的规模和复杂的系统性,除了大量硬件模块之外,SoC还需要大量的同件和软件,如操作系统,驱动程序以及应用程序等。面对SoC数目众多的硬件模块, ...
https://www.eeworm.com/dl/514/12975.html
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学术论文 GPS系统设计及其FPGA验证

近年来,GPS技术迅速发展,并随着3G时代的到来,其应用领域日益广阔,需求量与日俱增。与此同时,随着电路系统设计越来越复杂,上市时间日益缩短,集成电路设计方法面临重大变革。因此采用新型方法学来设计GPS接收系统是必要的。 本文基于GPS原理,采用可复用的IP技术和软硬协同设计技术,设计了一种高性能的GPS SOC接收系 ...
https://www.eeworm.com/dl/514/13615.html
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教程资料 基于FPGA原型的GPS基带验证系统设计与实现

随着SoC设计复杂度的提高,验证已成为集成电路设计过程中的瓶颈,而FPGA技术的快速发展以及良好的可编程特性使基于FPGA的原型验证越来越多地被用于SoC系统的设计过程。本文讨论了GPS基带的验证方案以及基于FPGA的设计实现,并对验证过程中的问题进行了分析,并提出相应的解决办法。 ...
https://www.eeworm.com/dl/fpga/doc/32669.html
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可编程逻辑 基于FPGA原型的GPS基带验证系统设计与实现

随着SoC设计复杂度的提高,验证已成为集成电路设计过程中的瓶颈,而FPGA技术的快速发展以及良好的可编程特性使基于FPGA的原型验证越来越多地被用于SoC系统的设计过程。本文讨论了GPS基带的验证方案以及基于FPGA的设计实现,并对验证过程中的问题进行了分析,并提出相应的解决办法。 ...
https://www.eeworm.com/dl/kbcluoji/40259.html
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测试测量 电子系统热管理设计与验证中的结温估算与测量

针对电子系统容易出现的热失效问题,论述在电子系统的热管理设计与验证中,对半导体器件结温的估算和测量方法。通过测量半导体器件内部二极管参数,来绘制二极管正向压降与其温度关系曲线,进而求解出器件的结温估算值,以指导热管理设计;采用热分布测量和极值测量来计算器件的实际结温,对热管理设计进行评估、验证。使用 ...
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