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学术论文 基于FPGA的可测性设计方法研究

现场可编程门阵列(FPGA)是一种现场可编程专用集成电路,它将门阵列的通用结构与现场可编程的特性结合于一体,如今,FPGA系列器件已成为最受欢迎的器件之一。随着FPGA器件的广泛应用,它在数字系统中的作用日益变得重要,它所要求的准确性也变得更高。因此,对FPGA器件的故障测试和故障诊断方法进行更全面的研究具有重要意义 ...
https://www.eeworm.com/dl/514/12551.html
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学术论文 单片机测速

利用霍尔传感器测速简单容易实现。值得我们借鉴学习,
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学术论文 基于FPGA的ADC并行测试方法研究

高性能ADC产品的出现,给混合信号测试领域带来前所未有的挑战。并行ADC测试方案实现了多个ADC测试过程的并行化和实时化,减少了单个ADC的平均测试时间,从而降低ADC测试成本。本文实现了基于FPGA的ADC并行测试方法。在阅读相关文献的基础上,总结了常用ADC参数测试方法和测试流程。使用FPGA实现时域参数评估算法和频域参数 ...
https://www.eeworm.com/dl/514/13846.html
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学术论文 MLX90614系列红外测温模块原理与应用

·MLX90614系列红外测温模块原理与应用
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技术书籍 《计算机和测控系统总线手册》

·目录计算机测控系统设计与应用出版说明前言第1章 计算机测控系统概论1.1 计算机测控系统的发展过程1.2 微处理器与微控制器技术1.3 数字信号处理器DSP技术1.4 计算机测控系统的发展习题第2章 微处理器与微控制器总线配置2.1 INTEL8088CPU三总线的配置2.2 MCS-51系列及其兼容单片微控制器2.3 MCS-96 系列单片微控制器三总线 ...
https://www.eeworm.com/dl/537/14990.html
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技术书籍 《工业测控系统的抗干扰技术》圣经级别的教材

·详细说明:《工业测控系统的抗干扰技术》圣经级别的教材,详细而不枯燥地讲述了工业测控系统应用中抗干扰技术的应用,原理,方法,对嵌入式工控设计有很大的帮助
https://www.eeworm.com/dl/537/15194.html
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电路图 pt1000测温电路

pt1000测温电路。测量范围可以扩展,其中用LM2902做的仪用放大器你可以用在好多工业仪表中的。
https://www.eeworm.com/dl/507/16317.html
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C/C++语言编程 串口测温C程序

串口测温C程序,已经测设过成功,基于单片机的代码
https://www.eeworm.com/dl/503/16459.html
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教程资料 在测控系统中用IP核实现DA转换

在测控系统中用IP核实现DA转换.doc
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教程资料 VHDL设计的ds18b20的测温程序

VHDL设计的ds18b20的测温程序,欢迎测试请不要直接复制,可能不好显示。
https://www.eeworm.com/dl/fpga/doc/18112.html
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