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技术书籍 GB-T-1772-1979-电子元器件失效率试验方法.pdf
专辑类-国标类相关专辑-313册-701M GB-T-1772-1979-电子元器件失效率试验方法.pdf
技术书籍 高频硅PNP晶体管3CG120高温失效机理研究
为了保证在高温条件下，正确使用高频硅PNP晶体管3CG120，文中对3CG120在不同温度段的失效机理进行了研究。通过对硅PNP型晶体管3CG120进行170~340 ℃温度范围内序进应力加速寿命试验，发现在170~240 ℃，240~290 ℃，以及290~340 ℃分别具有不同的失效机理，并通过分析得到了保证加速寿命试验中与室温相同的失效机理温 ...
电子书籍 电子元器件失效分析技术与案例 31页 1.3M.pdf
电子工艺,质量及可靠性相关专辑 80册 902M电子元器件失效分析技术与案例 31页 1.3M.pdf
技术资料 开关电源中功率器件的失效原因分析及解决方案
开关电源中功率器件的失效原因分析及解决方案 开关电源各重要器件的失效分析
技术资料 电子元器件失效分析技术与案例 31页 1.3M.pdf
资料->【B】电子技术->【B6】品质管理->【0】工艺质量（可靠性、电磁兼容、抗干扰、WDT、品管）->电子元器件失效分析技术与案例 31页 1.3M.pdf
技术资料 GB-T-1772-1979-电子元器件失效率试验方法.pdf
专辑类-国标类相关专辑-313册-701M GB-T-1772-1979-电子元器件失效率试验方法.pdf
技术资料 电子元器件失效分析技术与案例-31页-1.3M.pdf
专辑类-电子工艺-质量及可靠性相关专辑-80册-9020M 电子元器件失效分析技术与案例-31页-1.3M.pdf
电子工艺,质量及可靠性 电子元器件可靠性和失效分析经典文章(共38篇) pdf
电子元器件可靠性和失效分析经典文章(共38篇) pdf
电子书籍 GB-T 1772-1979 电子元器件失效率试验方法.pdf
国标类相关专辑 313册 701MGB-T 1772-1979 电子元器件失效率试验方法.pdf
技术资料 电子元器件可靠性和失效分析(共40篇) pdf.rar
资料->【B】电子技术->【B6】品质管理->【0】工艺质量（可靠性、电磁兼容、抗干扰、WDT、品管）->电子元器件可靠性和失效分析(共40篇) pdf.rar