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可靠性试验 的查询结果
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技术资料 SiP封装中的芯片堆叠工艺与可靠性研究
目前cPU+ Memory等系统集成的多芯片系统级封装已经成为3DSiP(3 Dimension System in Package,三维系统级封装)的主流,非常具有代表性和市场前景,SiP作为将不同种类的元件,通过不同技术,混载于同一封装内的一种系统集成封装形式,不仅可搭载不同类型的芯片,还可以实现系统的功能。然而,其封装具有更高密度和更大的发 ...
电感器 漆包线去漆皮的试验及应用
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电子基础 模拟系统的故障诊断与可靠性设计
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数字处理及显示 数字系统的诊断和可靠性设计
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LED驱动及控制 项目2LED照明产品可靠性加速测试与分析
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LED驱动及控制 LED路灯测试标准及试验方法 Word
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LED驱动及控制 LED照明测试技术分析—驱动电源可靠性和能效成关键
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