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资料/手册  半导体术语中英对译.pdf

半导体中术语英文对应汉语，对翻译比较有用，如果看英文资料不知道可以查查。

https://www.eeworm.com/dl/541/12659.html

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技术教程  硬件测试技术及信号完整性分析

测试的目的决定了如何去组织测试。如果测试的目的是为了尽可能多地找出错误，那么测试就应该直接针对设计比较复杂的部分或是以前出错比较多的位置。如果测试目的是为了给最终用户提供具有一定可信度的质量评价，那么测试就应该直接针对在实际应用中会经常用到的商业假设。 ...

https://www.eeworm.com/dl/538/12726.html

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技术书籍  3C认证中的电磁兼容测试与对策

书中以国家“3C”认证为出发点，引出产品对电磁兼容的基本要求，给出相关产品所必须进行的电磁兼容测试项目及所采用测试标准。本书无意成为现有标准的翻版，而希望成为读者在学习、理解和掌握标准时的一种补充。为此，书中重点说明每种试验的目的、作者对标准的理解、试验中对试验仪器的要求、必须有的试验配置、正确的试验 ...

https://www.eeworm.com/dl/537/12848.html

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经验分享  硬件测试资料

\培训资料\射频硬件知识\硬件测试技术似懂非懂

https://www.eeworm.com/dl/508/12966.html

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测试测量  安規测试操作指南

安规测试操作指南中文PDF扫描版本，主要介绍安规的基础知识及安规测试。

https://www.eeworm.com/dl/544/13122.html

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技术书籍  半导体器件物理基础

半导体器件物理基础电子入门到精通

https://www.eeworm.com/dl/537/13137.html

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经验分享  MDK Jlink Mini2440测试程序移植

RealView+MDK+Jlink+Mini2440测试程序移植(成功)2

https://www.eeworm.com/dl/508/13354.html

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学术论文  FPGA测试方法研究

FPGA(Field Programmable Gate Arrays)是目前广泛使用的一种可编程器件，FPGA的出现使得ASIC(Application Specific Integrated Circuits)产品的上市周期大大缩短，并且节省了大量的开发成本。目前FPGA的功能越来越强大，满足了目前集成电路发展的新需求，但是其结构同益复杂，规模也越来越大，内部资源的种类也R益丰富，但 ...

https://www.eeworm.com/dl/514/13646.html

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技术书籍  EMC测试

EMC测试资料，介绍EMC基础知识，以及测试项目等

https://www.eeworm.com/dl/537/13735.html

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学术论文  基于FPGA的ADC并行测试方法研究

高性能ADC产品的出现，给混合信号测试领域带来前所未有的挑战。并行ADC测试方案实现了多个ADC测试过程的并行化和实时化，减少了单个ADC的平均测试时间，从而降低ADC测试成本。本文实现了基于FPGA的ADC并行测试方法。在阅读相关文献的基础上，总结了常用ADC参数测试方法和测试流程。使用FPGA实现时域参数评估算法和频域参数 ...

https://www.eeworm.com/dl/514/13846.html

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