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国标  GB-T 1772-1979 电子元器件失效率试验方法

GB-T 1772-1979 电子元器件失效率试验方法

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国标  GB-T 12560-1990 半导体器件分立器件分规范 (可供认证用)

GB-T 12560-1990 半导体器件分立器件分规范 (可供认证用)

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国标  GB-T 11279-1989 电子元器件环境试验使用导则

GB-T 11279-1989 电子元器件环境试验使用导则

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国标  GB-T 249-1989 半导体分立器件型号命名方法

GB-T 249-1989 半导体分立器件型号命名方法

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技术书籍  上海丰宝电子元器件样本-熔断器-压敏电阻-++-53.8M.rar

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技术书籍  贴片元器件应用手册-514页-35.0M.rar

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技术书籍  东光元器件样本-72页-7.7M.rar

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技术书籍  国内外最新常用传感器和敏感元器件性能数据手册-992页-20.6M.rar

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技术书籍  敏感元器件与应用-456页-6.8M.rar

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电子元器件抗ESD技术讲义:引言 4 第1 章电子元器件抗ESD损伤的基础知识 5 1.1 静电和静电放电的定义和特点 5 1.2 对静电认识的发展历史 6 1.3 静电的产生 6 1.3.1 摩擦产生静电 7 1.3.2 感应产生静电 8 1.3.3 静电荷 8 1.3.4 静电势 8 1.3.5 影响静电产生和大小的因素 9 1.4 静电的来源 10 1.4.1 人体静电 1 ...

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