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国标 GB-T 11297.10-1989 热释电材料居里温度 TC 的测试方法
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国标 GB-T4677.10-1984 印制板可焊性测试方法
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国标 开关电源测试规范ht
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国标 GB 4677.22-1988 印制板表面离子污染测试方法
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国标 GB-T4677.19-1988 印制板电路完善性测试方法
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国标 GB-T4677.4-1984 印制板抗剥强度测试方法
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学术论文 高性能嵌入式处理器低功耗技术研究.rar
博士论文:
本文围绕高性能嵌入式处理器的功耗问题,开展了深入的研究,主要涉及功
耗评估技术、嵌入式处理器结构级低功耗优化技术和异构处理器的功耗有效性三
个方面。
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专辑类----元器件样本专辑 常用大功率电阻-5页-0.6M.rar
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