main.c

MPS430 温度转换程序,测试硬件传感器性能

//MSP430基础实验开发组件 - ADC12内部模块演示程序之内部温度传感器
//时钟设置:
////ACLK = n/a, MCLK = SMCLK = default DCO ~ 800kHz, ADC12CLK = ADC12OSC
//当前演示程序功能描述:
////利用MSP430F14X内部的温度传感器,通过ADC12的通道10进行AD转换
////计算取得摄氏温度和华氏温度,通过断点在View->Watch中观察温度值
////由于定标问题, 可能会存在温度的误差
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#include <msp430x16x.h>

unsigned int long temp;
unsigned int long TemperF;                                        //华氏温度
unsigned int long TemperC;                                        //摄氏温度
void main(void) {
    WDTCTL = WDTPW + WDTHOLD;           //关闭系统看门狗
    ADC12CTL0 = SHT0_8 + REFON + ADC12ON;    //内部1.5V参考电压,打开ADC12模块,设置采样保持定时器
    ADC12CTL1 = SHP;                    //使用采样定时器
    ADC12MCTL0 = SREF_1 + INCH_10;      //参考电压和通道选择
   //P6SEL |=BIT4;
    //ADC12CTL1 = CSTARTADD_1;
    ADC12IE = BIT0;                     //ADC12MEM0
    ADC12CTL0 |= ENC;                   //允许转换

    _BIS_SR(GIE);                   //开启系统中断

    while(1) {
        ADC12CTL0 |= ADC12SC;       //开始采样并AD转换

        //oF = ((x/4096)*1500mV)-923mV)*1/1.97mV = x*761/4096 - 468
        //IntDegF = (ADC12MEM0 - 2519)* 761/4096
        TemperF = (temp - 2519) * 761;
        TemperF = TemperF / 4096;        //简化的华氏温度转换公式

        //oC = ((x/4096)*1500mV)-986mV)*1/3.55mV = x*423/4096 - 278
        //IntDegC = (ADC12MEM0 - 2692)* 423/4096
        TemperC = (temp - 2692) * 423;
        TemperC = TemperC / 4096;          //简化的摄氏温度转换公式

        _NOP();                           //加入断点可用来观察IntDegF和IntDegC结果
    }
}

#pragma vector=ADC_VECTOR
__interrupt void ADC12ISR(void) {
    temp = ADC12MEM0;                   //保存转换结果
}