📄 1_06_19.htm
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<title>教材简介</title>
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<td class="blue9b">数字系统的故障诊断与可靠性设计(第二版)</td>
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<td class="black9">作者：杨士元<br>
书号：ISBN 7-302-01136-2/TP·334<br>
定价：25.00元</td>
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<td colspan="2" class="black9">
<p>内容简介：<br>
在1989年出版了本书第一版以来的十年中，微电子技术发展非常快。作为一本专业性的教材，尤其是关于数字电路测试技术的教材，有些内容已显得陈旧和落后，而一些新技术又没有纳入，不利于学生和读者了解国内外在该领域的发展动向。而在国内不少研究单位和高校，尤其是军事部门的一些单位，对数字系统的测试有越来越急迫的需求。基于上述二点，决定对该书作较大幅度的修改和增删，作为该书的第二版与读者见面。<br>
在这次修订的过程中，鉴于目前时序电路的可测性技术日臻完善和成熟，其测试常在内驻自测试中完成，因此对相关内容作了较大的删改。但为使本书较为系统化，同时考虑到国内在可测性设计领域尚属起步阶段，现有的系统和设备大多还没有使用或采纳，因此仍保留了一些基本方法的介绍。第二版中增加的篇幅主要集中在第5章和第6章，即关于数字系统的可测性设计和数字系统的可靠性设计两个部分。前者在国际上发展很快，目前已有了国际上的标准，并被一些大公司广泛采用，在国内也引起了相当的重视，因此在第5章中增加了目前可测性设计的主要技术--边界扫描设计以及相应的国际标准IEEE
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