ejk601_test(070103)._c

MCU控制继电器做的电源老化测试程序.每次测100次

//EJK601_TEST prj 
//V1.0 release 2006.12.30
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#include <iom16v.h>
#include <inr_define.h>



//unsigned int KEY;


void main(void)
{
DELAY_10MS(10);//（2）
DDRA=0x00;     //PORTA INPUT
PORTA=0x00;

DDRB=0XFF;     //DDFINE PB OUTPUT
PORTB=0xFF;          //for EJK601  2007012   //PORTB=0x00;
DDRC=0XFF;      //DDFINE PC OUTPUT
PORTC=0xFF;     //

DDRD=0XF0;      //PD0.....PD3  INPUT,PD4....PD7 OUPUT
PORTD=0xFF;    //INIT PORTD

PIND=0X00;    //INIT PORTD
PORTD=0x00;

while(1)
		{
#if PCB_EJK601
EJK601_TEST();
        #endif				
#if EJK610_KEY_TEST
EJK610_KEY_TEST_F();
	#endif		
		/*
		#if EJK610_LED_TEST 
		   LEDTEST();
		#endif  
		*/
				
		}
}