test44x_ca01.c

ADC12操作 DATA FLASH操作 EEPROM操作 FLASH读写操作 LCD点阵操作 TIMER_A_操作 Timer_B操作 比较器A操作 端口操作 基

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//  MSP430-TEST44X Demo - Comp_A Output Comparator_A reference voltages on P1.6
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//  Description; Output comparator_A reference levels on P1.6.  Program will
//  cycle through the on-chip comparator_A reference voltages with output on
//  P1.6. Normal mode is LPM0, TA0_ISR will interrupt LPM0.
//  ACLK = n/a, MCLK = SMCLK = default DCO 1Mhz
//
//		  MSP430F449
//             -----------------
//         /|\|              XIN|-
//          | |                 |
//          --|RST          XOUT|-
//            |                 |
//            |             P1.6|-->Vref
//            |                 |			
//
//  Lierda, Inc
//  February 2006.03
//  Built with IAR Embedded Workbench Version: 3.40A
//  ID：  MSP430-TEST44X
//  DATA：2005-7-12
//  REV： 2.0A
//  程序功能：通过TIMER_A定时唤醒功能改变比较器的参考电压的不同设置模式，在P.16口输入不同的参考电压值
//  硬件连接：连接p1.6口短接器。
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#include  "msp430x44x.h"

void delay(void);                       // Software delay

void main (void)
{
  WDTCTL = WDTPW + WDTHOLD;             // Stop WDT
  CACTL2 = P2CA0;                       // P2.3 = +comp
  CCTL0 = CCIE;                         // CCR0 interrupt enabled
  TACTL = TASSEL_2 + ID_3 + MC_2;       // SMCLK/8, cont-mode
  _EINT();                              // enable interrupts

  while (1)                             // Loop
  {
    CACTL1 = 0x00;                      // No reference voltage Vcc= on  p2.3
    _BIS_SR(LPM0_bits);                 // Enter LPM0
    CACTL1 = CAREF0 + CAON;             // 0.25*Vcc on P2.3, Comp. on
    _BIS_SR(LPM0_bits);                 // Enter LPM0
    CACTL1 = CAREF1 + CAON;             // 0.5*Vcc on P2.3, Comp. on
    _BIS_SR(LPM0_bits);                 // Enter LPM0
    CACTL1 = CAREF1 + CAREF0 + CAON;    // choose diode on P2.3, Comp. on
    _BIS_SR(LPM0_bits);                 // Enter LPM0
  }
}

#pragma vector=TIMERA0_VECTOR
__interrupt void Timer_A (void)
{
    _BIC_SR_IRQ(LPM0_bits);             // Clear LPM0 bits from 0(SR)
}