串联型二极管峰值包络检波器电路及原理

串联型二极管峰值包络检波器电路及原理

串联型二极管峰值包络检波器 电路及原理

大信号（0.5V以上）检波器，也称包络检波器。

1、串联型二极管峰值包络检波器

该种检波器的原理电路如图5.5-10A所示。在电路中，信号源U1、二极管VD和检波负载RLCL是串联相接的，故称之为串联型二极管峰值包络检波器。电路是利用VD单向导电和检波负载RLCL充放电而工作的。VD的寻通与否决定于高频输入电压U1和输出电压UO（即电容CL上的电压UCL）之差（U1-U0），在高频信号正半周（U1-U0）﹥0期间VD导通，流过VD的高频电流ID对CL导通时充电，充电时间常数为RDCL（RD很小为VD导通时的内阻）很小，U0在很短时间内就接近高频电压最大值。在（U1-U0）﹤0期间，VD截止，电容CL通过RL放电，由于放电时间常数RLCL（》RDCL）远大于高频信号周期，故放电很慢，这样不煌地循环反复充放电，就得到如图5.5-10B中电压波形。由于U0与U1的幅度相当接近，峰值包络检波由此而得名。

图5.5-10C为检波二极管电流电压波形，ID呈脉冲状，其幅度随U1包络的变化而变化，ID中含有的平均电流UDEV在负载RL上的压降即为输出电压UO。可以证明，当U1=UC（1+MACOSOT）COSOCT时UO中调制信号分量UOO为：

式中θ为二极管导通时通角之半，它为仅与RD与RL有关的一个常数。θ、RL、RD三者的关系为：

R1D决定于θ，即取决于RD/RL，因此，也可根据RD/RL值，通过表5.5-3查出R1D值。

包络检波器常有两种非线性失真：一是对角切割失真、二是负峰切割失真。

图5.5-11示出对角切割失真情况。产生该种失真的原因是检波电路的时间常数RLCL选得过大，以使电容CL的放电速率跟不上包络变化速率所造成的。为了避免对角切割失真的产生，对于单音调制选取时间常数RLCL时必须满足下式

上式表明，MA的欧越大，包络下降速度越快，避免产生对角切割失真所要求的RLCL值就越小。在多音调制时，作为工程估算，欧和MA应取其中的最大值。