提出了一种基于横向塞曼激光器的新的滚转角测量系统。该系统在已有技术的基础上,将测量放大倍率又扩展了4 倍,从而大大提高了滚转角的测量精度。系统以横向塞曼激光器出射的正交线偏振光作为测量光,首先经1/4
单片机控制的高精度Michelson干涉型
资料详细技术说明
设计了Michelson干涉型激光波长计干涉条纹的单片微机计数硬件电路,编写了8254计数和Keil C51波长运算程序.为提高仪器的测量精度,在硬件和软件上提出了新的设计方案.两个8254计数器可以在单片微机的控制下自动从参考光脉冲信号的下降沿开始对参考信号和被测信号同时计数;参考激光干涉条纹计数满1 500 000后,参考信号和被测信号的计数器可以同时被自动锁定;单片微机得到锁定信号后,完成两个计数值的读取、波长运算、10次移位平均和7位波长显示.对633 nm和532 nm两种稳频激光波长进行了实际测量,测量数据表明该计数系统使波长的测量精度达到2×10-7.
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