JESD22-A108-B IC寿命试验标准_

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  标签： 电磁兼容 试验标准

  上传时间： 2013-07-29

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  上传时间： 2013-07-04

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  标签： 2689.4 GB-T 1981 寿命

  上传时间： 2013-05-18

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  标签： 2689.3 GB-T 1981 寿命

  上传时间： 2013-06-14

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  标签： 2689.1 GB-T 1981 寿命

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  标签： 航天 电机 可靠性

  上传时间： 2013-07-29

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  标签： 电子元器件 寿命 比较 试验方法

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  标签： 2423.1-2008 高温

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  标签： 2423.5-1995 电工电子产品 冲击

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