基于STM32实现的全相位FFT相位差测量系统，适用于高精度信号分析场景。代码经过多个工业项目验证，可直接用于生产环境，支持实时相位差计算与频谱分析。
基于STM32的全相位FFT相位差测量系统
资料详细技术说明
基于全相位测量理论 , 使用 ARM 公司的高性能 32Bit CortexM32
内核处理器 STM32F103, 设计并制作了一个低成本 , 结构简单 , 处理速度快而有效的相位差测量系统 , 通过采样了 127 个点 , 处
理后做 64 个点的 FFT, 实现了信号相位差的测量。测试结果表明有效分辨精度为 1 度
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