在理论模型的基础上探讨了电子势垒的形状以及势垒形状随外加电压的变化, 并进行定量计算, 得出隧穿电压随杂质掺杂浓度的变化规律。所得结论与硅、锗p-n 结实验数据相吻合, 证明了所建立的理论模型在定量 研究p-n 结的隧道...
已自动扫描归档包内目录结构与文件清单
源码与文本文档支持点击「在线阅读」,二进制/媒体文件请下载压缩包后使用
1
FILE
151515.in
662 KB
包内组件