光纤温度传感器在HERO电磁辐射对军械EED的危险性测试

电磁辐射到军械上是危险的，潜在的电磁辐射对军工品或电子爆炸装置有不利影响，自从50 年代以来这就是众所周知的 问题。为了避免不必要的爆炸或电起爆装置（EID）从发射电磁能量增殖，这对于所有的防卫机构来说是必不可少的。伴 随着功率输出和发射设备频率范围的持续增加，减小此威胁变得至关重要。 为了确保大炮和军火系统保持安全，在适当维护条件下，测量电子爆炸装置（ EED）上电磁能量影响的测试设备有很大 发展。几年后基于光纤技术的新一代仪器取代了使用热电偶或红外探测的系统。光纤传感器（ FOS）具有高精度和高准 确性，非常灵敏，提供的响应时间可满足高效的EED。由于电绝缘的特性，光纤传感器对电磁干扰（EMI）完全免疫，在 感应环境中可表现出来。由于此有利的参数，基于光纤技术的传感器现已成为HERO/RADHAZ 测试的标准。然而，什么 是该技术必要的条件以提供EED 装置可靠的辐射评估仍然没有明确，怎样去完全发挥此技术优势以完全获益呢？

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