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系统级边界扫描 - 资源详细说明
以提高复杂电子设备系统级测试能力为目的, 在对边界扫描技术进行研究的基础上, 论述和总结了基于边界扫描的电子设备系统级测试的硬件结构、侧试方案和侧试装置, 并提出了软件系统的结构设计; 同时, 按照IE E E l l4 9.5 标准的M T M 一BU S 总线进行了结构设计和功能仿真;
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