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CMOS闩锁效应 -转载 - 资源详细说明
深入解析CMOS器件中闩锁效应的成因与防护机制，采用标准半导体物理模型进行分析，结合电路设计实践提供有效抑制方案，适用于集成电路可靠性研究与故障排查。
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