高加速应力筛选试验(二)
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典型的HASS过程包括三部分内容:HASS设计、筛选验证和产品HASS。和HALT试验层次性要求一样要有效实施HASS筛选过程,彻底清除产品的早期故障,应该在能够产生加工缺陷的元器件级、模块级、单元级和系统级按照从低到高的层次进行HASS筛选,才能保证整个产品的可靠性。通过筛选的有效性可快速找到产品的缺陷,且又不严重影响产品的寿命,产品HASS试验过程可分为四个步骤:1)加速筛选,把潜在的缺陷转变为显性缺陷。通过HASS试验 ,将产品中的某种未显现的或者是潜在缺陷变为显见的或可检测的缺陷。2)检测筛选,找出显性缺陷。检测筛选是暴露缺陷的很重要的部分,当将潜在缺陷析出为明显缺陷时,就会检出明显缺陷,且不会消耗产品太多寿命。3)失效分析,改进产品。通过筛选试验,能深入分析失效机理,及时采取纠正措施,使产品不断得到改进,最后使早期失效大大减少或消除,从而根据对产品的把握性大小来减少或消除产品HASS筛选过程。4)检验产品改进措施。对于改进后的产品,在筛选过程中要进一步收集和分析HASS数据,如果改进措施得当,失效率和时间合成区域的面积应当变小,如面积无变化,则改进措施不得当,需进行技术反馈。在产品HASS中,其核心内容是对失效原因进行分析研究并采取相应的措施进行改进,因此HASS过程中要检测每一个缺陷和故障。在HASS过程中由各种环境因素引起的失效比例如图1所示。HASS的剖面设计必须参考HALT试验所得到的结果、一般将综合环境应力中的高、低温度限定在可操作界限的80%,而振动条件则以破坏界限量值的50%作为HASS计划的初始条件。而后再依据此条件开始执行综合环境应力试验,并观察受试产品是否发生故障。一般的HASS的试验剖面图是由数个在两个极限温度之间的振动和温度等环境应力综合作用的循环周期构成的。如图2所示。其中筛选剖面包括应力类型、应力量级、驻留时间、试验顺序等,而各应力极限值都参照HALT试验结果,通常情下,加速筛选极限值介于工作极限和破坏极限之间,一般可取二者的平均值,而检测缺陷周期的上、下限值应取在产品的工作极限范围内,同时检测筛选极限值介于FLT(基本技术极限)与工作极限之间,如图3所示。最初HASS剖面设计完成后,必须通过筛选验证过程来确定此剖面设计参数不会引入可能造成受试产品故障的潜在缺陷,而造成受试品损坏或寿命大幅度降低。筛选剖面验证可证明HASS试验剖面是否能够满足其筛选判定标准的要求。对设计剖面进行筛选验证后,就可以按照其设计参数进行HASS筛选试验,整个筛选过程中要对其始终保持监控状态。试验中如果筛选漏掉了缺陷,或在筛选过程中出现一个高失效率,都可根据一些数据对筛选试验剖面进行适当调整。往期相关内容:
高加速应力筛选试验(一)
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